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一種薄膜粘附力測量系統(tǒng)[發(fā)明專利]

更新時(shí)間:2023-06-10 19:45:28 閱讀：評(píng)論：0

專利名稱：一種薄膜粘附力測量系統(tǒng)專利類型：發(fā)明專利

發(fā)明人：趙亞溥，王斌斌，王子千，左鵬申請(qǐng)?zhí)枺篊N201110342244.4

申請(qǐng)日：20111102

公開號(hào)：CN102507438A

公開日：

20120620

專利內(nèi)容由知識(shí)產(chǎn)權(quán)出版社提供

摘要：本發(fā)明公開了一種薄膜粘附力測量系統(tǒng)，包括：薄膜粘附單元，用于粘附待測薄膜；夾持單元，用于夾持粘附在所述薄膜粘附單元上的薄膜的一端；移動(dòng)單元，用于控制所述夾持單元沿所述薄膜的長度方向和/或與所述薄膜表面相垂直的方向移動(dòng)；拉力測量單元，設(shè)置在所述夾持單元上，用于測量夾持單元夾持住所述待測薄膜一端并向預(yù)定方向?qū)⑺霰∧乃霰∧ふ掣絾卧鸬倪^程中，所述夾持單元受到所述薄膜的拉力。本發(fā)明通過移動(dòng)單元控制夾持單元可沿薄膜的長度方向和與薄膜表面相垂直的方向移動(dòng)，并在移動(dòng)的過程中通過拉力測量單元測量夾持單元所受到的拉力，也就是薄膜粘附在薄膜粘附單元表面的粘附力，就能夠?qū)崿F(xiàn)在預(yù)定的路徑上測量薄膜的粘附力。

申請(qǐng)人：中國科學(xué)院力學(xué)研究所

地址：100190 北京市海淀區(qū)北四環(huán)西路15號(hào)

國籍：CN

代理機(jī)構(gòu)：北京和信華成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)

代理人：胡劍輝

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