存儲器測試方法、設備及系統與流程
1.本技術涉及存儲器的設計與制造領域，具體而言，涉及一種存儲器測試方法、設備及系統。
背景技術：
2.存儲器的制造工藝復雜、工序繁多，因此，在存儲器的制造過程中可能會導致存儲器產生諸多缺陷，例如，導致存儲器中某些存儲位失效。當然，也有部分存儲器在使用初期時性能正常，但是，經過一段時間的使用之后，缺陷被激發，同樣可能會導致存儲器中某些存儲位失效的可能性。
技術實現要素：
3.本技術的目的在于，提供一種存儲器測試方法、設備及系統，以解決上述問題。
4.本技術實施例提供的存儲器測試方法，包括：
5.根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中；
6.針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；
7.從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；
8.對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
9.本技術實施例提供的存儲器測試方法的實施過程中，由于目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據是根據上位機發送的測試方式指示信息自動生成的，且生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據之后，針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，此后，從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據，并對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，便可以獲得地址失效測試結果，從而實現目標存儲器的地址失效測試，且由于整個地址失效測試過程自動化程度較高，所涉及的邏輯處理過程簡單，因此，又能夠保證被測存儲器的地址失效測試效率。
10.結合第一方面，本技術實施例還提供了第一方面的第一種可選的實施方式，根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，包括：
11.根據測試方式指示信息獲取區域選取策略和數據生成策略；
12.根據區域選取策略從被測存儲器中選取出目標存儲區域，目標存儲區域中包括至少一個儲存庫；
13.根據數據生成策略生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據。
14.在上述實施方式中，根據測試方式指示信息能夠同時獲取區域選取策略和數據生成策略，根據區域選取策略能夠獲取區域選取策略和數據生成策略，根據數據生成策略能夠生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，因此，能夠提高被測存儲器地址失效測試的可控性。
15.結合第一方面，本技術實施例還提供了第一方面的第二種可選的實施方式，針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，包括：
16.獲取目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據；
17.針對目標存儲區域中的每個存儲位，對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據；
18.將第一重組數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中。
19.在上述實施方式中，針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，包括：獲取目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址，此后，針對目標存儲區域中的每個存儲位，對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據，將第一重組數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，從而保證存儲器測試方法的可靠性。
20.結合第一方面的第二種可選的實施方式，本技術實施例還提供了第一方面的第三種可選的實施方式，對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據，包括：
21.獲取存儲器測試設備與電子引腳陣列之間的第一連接關系，以及電子引腳陣列與被測存儲器之間的第二連接關系；
22.根據第一連接關系和第二連接關系，從存儲器測試設備的引腳集合中分別確定出與被測存儲器中地址控制引腳數組對應的目標地址控制引腳數組，以及與被測存儲器中數據輸入輸出引腳對應的目標數據引腳；
23.根據目標地址控制引腳數組和目標數據引腳對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據。
24.結合第一方面的第三種可選的實施方式，本技術實施例還提供了第一方面的第四種可選的實施方式，將第一重組數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，包括：
25.按照第一連接關系將第一重組數據發送給電子引腳陣列，以供電子引腳陣列對存儲位對應的測試數據進行電平轉換，并按照第二連接關系將存儲位的存儲地址和經過電平轉換之后的測試數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將經過電平轉換之后的測試數據寫入存儲位中。
26.在上述實施方式中，將第一重組數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，包括：按照第一連接關系將第一重組數據發送給電子引腳陣列，以供電子引腳陣列對存儲位對應的測試數據進行電平轉換，并按照第二連接關系將存儲位的存儲地址和經過電平轉換之后的測試數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將經過電平轉換之后的測試數據寫入存儲位中，從而保證測試數據能夠順利寫入存儲位中，以進一步提高存儲器測試方法的可靠性。
27.結合第一方面，本技術實施例還提供了第一方面的第五種可選的實施方式，從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據，包括：
28.針對目標存儲區域中的每個存儲位，在通過電子引腳陣列從存儲位中讀取實際數據，并對實際數據進行電平比較之后，從電子引腳陣列獲取經過電平比較之后的實際數據。
29.在上述實施方式中，從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據，包括：針對目標存儲區域中的每個存儲位，在通過電子引腳陣列從存儲位中讀取實際數據，并對實際數據進行電平比較之后，從電子引腳陣列獲取經過電平比較之后的實際數據，從而保證存儲器測試設備的可靠性。
30.結合第一方面，本技術實施例還提供了第一方面的第六種可選的實施方式，對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果，包括：
31.從目標存儲區域中每讀取一條實際數據，則根據實際數據的讀取次序，確定出與實際數據對應的目標測試數據；
32.判斷實際數據與目標測試數據是否一致；
33.若實際數據與目標測試數據不一致，則獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果，目標失效地址為目標存儲區域中讀取出實際數據的存儲位的存儲地址。
34.上述實施方式中，對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果，包括：從目標存儲區域中每讀取一條實際數據，則根據實際數據的讀取次序，確定出與實際數據對應的目標測試數據，并判斷實際數據與目標測試數據是否一致，以在實際數據與目標測試數據不一致，獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果，目標失效地址為目標存儲區域中讀取出實際數據的存儲位的存儲地址。由于從目標存儲區域中每讀取一條實際數據時，是根據實際數據的讀取次序，確定出與實際數據對應的目標測試數據的，所涉及的邏輯處理過程簡單，因此，能夠進一步提高被測存儲器的地址失效測試效率。
35.結合第一方面的第六種可選的實施方式，本技術實施例還提供了第一方面的第七種可選的實施方式，根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據之后，存儲器測試方法還包括：
36.在預設時間長度之后，按照預設時間間隔，將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址依次發送給地址失效存儲模塊；
37.獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果，包括：
38.通過地址失效存儲模塊接收實際數據時，獲取當前時刻地址失效存儲模塊接收到的存儲地址，以獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果，目標失效地址為當前時刻地址失效存儲模塊接收到的存儲地址。
39.結合第一方面的第六種可選的實施方式，本技術實施例還提供了第一方面的第八種可選的實施方式，對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果之后，存儲器測試方法還包括：
40.對目標失效地址和實際數據進行重組設置，獲得第二重組數據；
41.按照地址失效存儲模塊的外設存儲器所要求的數據格式對第二重組數據進行數據格式轉換；
42.將經過數據格式轉換之后的第二重組數據存儲于外設存儲器中。
43.在上述實施方式中，由于第二重組數據最終存儲于地址失效存儲模塊的外設存儲器中，因此，存儲容量不受限制，從而能夠滿足較大容量的測試應用需求。
44.第二方面，本技術實施例提供的存儲器測試設備，包括：
45.數據生成模塊，用于根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中；
46.數據寫入模塊，用于針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；
47.數據讀取模塊，用于從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；
48.數據對比模塊，用于對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
49.第三方面，本技術實施例提供的存儲器測試系統包括電子引腳陣列和存儲器測試設備，存儲器測試設備通過電子引腳陣列與被測存儲器連接；
50.針對目標存儲區域中的每個存儲位，存儲器測試設備通過電子引腳陣列將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；
51.存儲器測試設備通過電子引腳陣列從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據。
52.結合第三方面，本技術實施例還提供了第三方面的第一種可選的實施方式，存儲器測試系統還包括上位機，存儲器測試設備與上位機連接；
53.上位機用于獲取測試方式指示信息，并將測試方式指示信息發送給存儲器測試設備；
54.存儲器測試設備用于：
55.根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中；
56.針對目標存儲區域中的每個存儲位，通過電子引腳陣列將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；
57.通過電子引腳陣列從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；
58.對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
59.本技術實施例提供的存儲器測試設備及系統具有與第一方面，或第一方面的任意一種可選的實施方式所提供的存儲器測試方法相同的有益效果，此處不作贅述。
附圖說明
60.為了更清楚地說明本技術實施例的技術方案，下面將對本技術實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本技術的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
61.圖1為本技術實施例提供的一種存儲器測試方法的步驟流程圖。
62.圖2為本技術實施例提供的一種存儲器測試方法的輔助性說明圖。
63.圖3為本技術實施例提供的一種被測存儲器的儲存庫地址分配示意圖。
64.圖4為本技術實施例提供的一種存儲器測試系統中存儲器測試設備、電子引腳陣列和被測存儲器的連接方式示意圖。
65.圖5為本技術實施例提供的一種地址失效存儲模塊的功能說明圖。
66.圖6為本技術實施例提供的一種存儲器測試設備的示意性結構框圖。
67.附圖標記：100-存儲器測試設備；110-數據生成模塊；120-數據寫入模塊；130-數據讀取模塊；140-數據對比模塊。
具體實施方式
68.為使本技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行描述。此外，應注意到：相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步定義和解釋。
69.請參閱圖1，為本技術提供的存儲器測試方法的步驟流程圖，本技術實施例提供的存儲器測試方法應用于存儲器測試設備，而存儲器測試設備可以是，但不限于現場可編程邏輯門陣列(field programmable gate array，fpga)。此外，需要說明的是，本技術實施例提供的存儲器測試方法不以圖1及以下所示的順序為限制，以下結合圖1和圖2對存儲器測試方法的步驟流程進行描述。
70.步驟s100，根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中。
71.本技術實施例中，上位機為可以直接發出操控命令的計算機，上位機響應測試人員觸發的操作命令，生成測試方式指示信息，并將測試方式指示信息發送給存儲器測試設備，存儲器測試設備通過高速通信接口接收測試方式指示信息，并緩存于控制模塊，再通過控制模塊將測試方式指示信息發送給時序特征生成模塊，也稱，pattern generate模塊，以下簡稱pg模塊，此后，便通過pg模塊執行步驟s100。
72.對于目標存儲區域，其可以是固定區域，也可以是可控區域。若目標存儲區域為固定區域，則其可以是整個被測存儲器，也即，目標存儲區域為被測存儲器本身，也可以是被測存儲器中指定的至少一個儲存庫，也稱bank，而被測存儲器可以是雙倍速率同步動態隨機存儲器，也即，ddr sdram，也可以是高速緩沖存儲器，本技術實施例對此不作具體限制。若目標存儲區域為可控區域，則其可以通過測試方式指示信息確定，在此情況下，對于步驟s100，本技術實施例中，作為一種可選的實施方式，其可以包括步驟s110、步驟s120和步驟s130。
73.步驟s110，根據測試方式指示信息獲取區域選取策略和數據生成策略。
74.其中，區域選取策略用于指示從被測存儲器中選取出哪個，或哪幾個儲存庫，作為目標存儲區域，而數據生成策略可以是正棋盤法，也即，按照存儲位間隔生成測試數據“0”和“1”，也可以是反棋盤法，也即，按照存儲位間隔生成測試數據“1”和“0”。
75.步驟s120，根據區域選取策略從被測存儲器中選取出目標存儲區域，目標存儲區域中包括至少一個儲存庫。
76.步驟s130，根據數據生成策略生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據。
77.以被測存儲器包括圖3所示的四個儲存庫，分別表征為bank0、bank1、bank2和bank3，且每個bank的存儲容量為8byte，也即，64bit為例，假設，目標存儲區域中僅包括bank0，則目標存儲區域中64個存儲位的存儲地址分別為：
78.00000000；
79.00000001；
80.00000010；
81.……
82.00111111。
83.上述存儲地址中，第1bit和第2bit用于表征bank地址，第3bit、第4bit和第5bit為x方向地址，也即，存儲器深度方向位地址，第6bit、第7bit和第8bit為y方向地址，也即，存儲器位寬方向位地址，當然，實際實施時，若每個儲存庫的容量增大，則x方向地址和y方向地址位數也可以相應增加，本技術實施例對此不作具體限制。
84.若數據生成策略為正棋盤法，則生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據如表1所示。
85.表1
[0086][0087]
相反，若數據生成策略為反棋盤法，則生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據如表2所示。
[0088]
表2
[0089][0090][0091]
在通過pg模塊執行步驟s100之后，pg模塊將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據發送給時鐘特征生成模塊，也稱，time generate模塊，以下簡稱tg模塊，此后，便通過tg模塊執行步驟s200。
[0092]
步驟s200，針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中。
[0093]
需要說明的是，本技術實施例中，控制模塊還可以生成數據發送周期，并將數據發送周期發送給tg模塊，如此，tg模塊便可以按照數據發送周期執行步驟s200，也即，針對目標存儲區域中的每個存儲位，按照數據發送周期將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，而對于數據發送周期，其可以攜帶于測試方式指示信息，并通過控制模塊將其提取出。此外，對于步驟s200本身，本技術實施例中，作為一種可選的實施方式，其可以包括步驟s210、步驟s220和步驟s230。
[0094]
步驟s210，獲取目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據。
[0095]
步驟s220，針對目標存儲區域中的每個存儲位，對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據。
[0096]
實際實施時，可以根據存儲器測試設備與電子引腳陣列之間的第一連接關系，以及電子引腳陣列與被測存儲器之間的第二連接關系，此后，針對目標存儲區域中的每個存儲位，便可以根據第一連接關系和第二連接關系，對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據，也即，步驟s220中，“對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據”可以通過步驟s221、步驟s222和步驟s223實現。
[0097]
步驟s221，獲取存儲器測試設備與電子引腳陣列之間的第一連接關系，以及電子引腳陣列與被測存儲器之間的第二連接關系。
[0098]
步驟s222，根據第一連接關系和第二連接關系，從存儲器測試設備的引腳集合中分別確定出與被測存儲器中地址控制引腳數組對應的目標地址控制引腳數組，以及與被測
存儲器中數據輸入輸出引腳對應的目標數據引腳。
[0099]
步驟s223，根據目標地址控制引腳數組和目標數據引腳對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據。
[0100]
假設，存在圖4所示的存儲器測試系統，包括存儲器測試設備、電子引腳陣列和被測存儲器。
[0101]
圖4所示的存儲器測試系統中，存儲器測試設備與電子引腳陣列之間的第一連接關系如表3所示。
[0102]
表3
[0103]
存儲器測試設備電子引腳陣列引腳a10第一電子引腳引腳a11第二電子引腳引腳a12第三電子引腳引腳a13第四電子引腳引腳a14第五電子引腳引腳a15第六電子引腳引腳a16第七電子引腳引腳a17第八電子引腳引腳d10第九電子引腳
[0104]
圖4所示的存儲器測試系統中，電子引腳陣列與被測存儲器之間的第二連接關系如表4所示。
[0105]
表4
[0106]
電子引腳陣列被測存儲器第一電子引腳引腳a27第二電子引腳引腳a26第三電子引腳引腳a25第四電子引腳引腳a24第五電子引腳引腳a23第六電子引腳引腳a22第七電子引腳引腳c1第八電子引腳引腳c0第九電子引腳引腳d20
[0107]
假設，被測存儲器中，通過地址控制引腳數組【c0，c1，a22，a23，a24，a25，a26，a27】所表征的8個引腳接收存儲地址，其中，【c0，c1】表征的2個控制引腳用于接收bank地址，【a22，a23，a24】表征的3個地址引腳用于接收x方向地址，【a25，a26，a27】表征的3個地址引腳用于接收y方向地址，在第一連接關系如表3所示，第二連接關系如表4所示的情況下，從存儲器測試設備的引腳集合中確定出目標地址控制引腳數組為【a17，a16，a15，a14，a13，a12，a11，a10】，其中，【a17，a16】表征的2個引腳用于發送bank地址，【a15，a14，a13】表征的3個引腳用于發送x方向地址，【a12，a11，a10】表征的3個引腳用于發送y方向地址。
[0108]
再假設，被測存儲器中，通過數據輸入輸出引腳d20接收測試數據，在第一連接關
系如表3所示，第二連接關系如表4所示的情況下，從存儲器測試設備的引腳集合中確定出目標數據引腳為d10。
[0109]
在根據第一連接關系和第二連接關系，從存儲器測試設備的引腳集合中分別確定出與被測存儲器中地址控制引腳數組【c0，c1，a22，a23，a24，a25，a26，a27】對應的目標地址控制引腳數組【a17，a16，a15，a14，a13，a12，a11，a10】，以及與被測存儲器中數據輸入輸出引腳d20對應的目標數據引腳d10之后，便可以根據目標地址控制引腳數組【a17，a16，a15，a14，a13，a12，a11，a10】和目標數據引腳d10對存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據。以存儲地址為00000001的存儲位為例，若數據生成策略為正棋盤法，則該存儲位對應的測試數據為1，則對該存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置的過程為：通過引腳a10輸入y方向地址中的第3bit，也即“1”，通過引腳a11輸入y方向地址中的第2bit，也即“0”，通過引腳a12輸入y方向地址中的第1bit，也即“0”，通過引腳a13輸入x方向地址中的第3bit，也即“0”，通過引腳a14輸入x方向地址中的第2bit，也即“0”，通過引腳a15輸入x方向地址中的第1bit，也即“0”，通過引腳a16輸入bank地址中的第2bit，也即“0”，通過引腳a17輸入bank地址中的第1bit，也即“0”，通過數據輸入輸出引腳d10輸入該存儲位對應的測試數據，也即“1”，最終，獲得第一重組數據為【1，0，0，0，0，0，0，0，1】。
[0110]
步驟s230，將第一重組數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中。
[0111]
本技術實施例中，可以按照第一連接關系將第一重組數據發送給電子引腳陣列，以供電子引腳陣列對存儲位對應的測試數據進行電平轉換，并按照第二連接關系將存儲位的存儲地址和經過電平轉換之后的測試數據發送給被測存儲器，以供被測存儲器將經過電平轉換之后的測試數據寫入存儲位中。需要說明的是，本技術實施例中，電子引腳陣列對存儲位對應的測試數據進行電平轉換的目的在于，使得測試數據最終與被測存儲器的存儲激勵電壓一致，從而保證測試數據能夠順利寫入存儲位中，以進一步提高存儲器測試方法的可靠性。例如，測試數據為邏輯高電平“1”，則其在存儲器測試設備中實際為1.5v電信號，測試數據為邏輯高電平“0”，則其在存儲器測試設備中實際為0v電信號，對于1.5v電信號，需要對其進行電平轉換，獲得1.2v電信號，對于0v電信號，需要對其進行電平轉換，獲得0.5v電信號，具體轉換目標值需要根據被測存儲器的屬性確定，本技術實施例對此不作限制。
[0112]
在通過tg模塊執行步驟200之后，tg模型將繼續執行步驟s300。
[0113]
步驟s300，從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據。
[0114]
需要說明的是，本技術實施例中，可以按照執行步驟s200時測試數據的寫入次序從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據。
[0115]
此外，在存儲器測試系統中包括電子引腳陣列的情況下，針對目標存儲區域中的每個存儲位，實際可以先通過電子引腳陣列從存儲位中讀取實際數據，并對實際數據進行電平比較，此后，通過tg模塊從電子引腳陣列獲取經過電平比較之后的實際數據，從而保證存儲器測試設備的可靠性。基于此，步驟s300實際包括：針對目標存儲區域中的每個存儲位，在通過電子引腳陣列從存儲位中讀取實際數據，并對實際數據進行電平比較之后，從電子引腳陣列獲取經過電平比較之后的實際數據。具體電平比較過程可以是：針對目標存儲區域中的每個存儲位，在通過電子引腳陣列從存儲位中讀取實際數據之后，將其與預設電
平閾值進行比較，若大于預設電平閾值，則認為實際數據為邏輯高電平“1”，若小于預設電平閾值，則認為實際數據為邏輯低電平“0”，而預設電平閾值可以由測試人員通過上位機設置，并發送給電子引腳陣列，具體數值則可以根據被測存儲器的屬性確定，本技術實施例對此不作限制。
[0116]
步驟s400，對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
[0117]
由于可以按照執行步驟s200時測試數據的寫入次序從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據，因此，本技術實施例中，步驟s400可以包括步驟s410、步驟s420和步驟s430。
[0118]
步驟s410，從目標存儲區域中每讀取一條實際數據，則根據實際數據的讀取次序，確定出與實際數據對應的目標測試數據。
[0119]
例如，從目標存儲區域中讀取到某條實際數據(為方便后續描述，將該條實際數據定義為目標實際數據)，且目標實際數據的讀取次序為1，則與目標實際數據對應的目標測試數據的寫入次序同樣為1，也即，目標測試數據為寫入存儲地址為00000000的存儲位。那么，在數據生成策略為正棋盤法的情況下，目標測試數據為0，在數據生成策略為反棋盤法的情況下，目標測試數據為1。
[0120]
再例如，從目標存儲區域中讀取到某條實際數據(為方便后續描述，將該條實際數據定義為目標實際數據)，且目標實際數據的讀取次序為2，則與目標實際數據對應的目標測試數據的寫入次序同樣為2，也即，目標測試數據為寫入存儲地址為00000001的存儲位。那么，在數據生成策略為正棋盤法的情況下，目標測試數據為1，在數據生成策略為反棋盤法的情況下，目標測試數據為0。
[0121]
步驟s420，判斷實際數據與目標測試數據是否一致。
[0122]
步驟s430，若實際數據與目標測試數據不一致，則獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果，目標失效地址為目標存儲區域中讀取出實際數據的存儲位的存儲地址。
[0123]
對于“獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果”，本技術實施例中，作為第一種可選的實施方式，其可以由tg模塊執行，也即，tg模塊在執行步驟s410和步驟s420，并判定實際數據與目標測試數據不一致時，確定出目標測試數據對應的存儲位的存儲地址，其也為讀取出實際數據的存儲位的存儲地址，也即，目標失效地址，此后，便將目標失效地址和實際數據共同作為地址失效測試結果發送給地址失效存儲(address fail memory，afm)模塊。
[0124]
對于“獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果”，本技術實施例中，作為第二種可選的實施方式，其也可以由afm模型執行。在此情況下，本技術實施例提供的存儲器測試方法在執行步驟s100之后，還可以包括步驟s001。
[0125]
步驟s001，在預設時間長度之后，按照預設時間間隔，將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址依次發送給地址失效存儲模塊。
[0126]
對于預設時間長度，本技術實施例中，可以通過以下方式獲取：
[0127]
獲取pg模塊執行完步驟s300，也即，將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據發送給tg模塊時，對應的第一時刻；
[0128]
獲取tg模塊從目標存儲區域中讀取的第一條實際數據時，對應的第二時刻；
[0129]
第一時刻與第二時刻之間的時間差值即為預設時間長度。
[0130]
此外，本技術實施例中，預設時間間隔可以是數據發送周期與tg模塊每次根據某條實際數據(為方便后續描述，將該條實際數據定義為目標實際數據)的讀取次序，確定出與目標實際數據對應的目標測試數據，且判定目標實際數據與目標測試數據不一致，而將目標實際數據發送給afm模塊所需的時間長度之和，基于此，控制模塊在生成數據發送周期之后，還可以將數據發送周期發送給pg模塊。
[0131]
在本技術實施例提供的存儲器測試方法包括步驟s001的情況下，對于“獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果”，本技術實施例中，可以通過afm模塊接收實際數據時，獲取當前時刻afm模塊接收到的存儲地址，以獲得包括目標失效地址和實際數據的地址失效測試結果，目標失效地址為當前時刻afm模塊接收到的存儲地址。
[0132]
以預設時間長度為10s，而預設時間間隔為0.5ms為例，pg模塊將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據發送給tg模塊，并間隔10s之后，按照0.5ms的時間間隔，將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址依次發送給afm模塊。同樣，假設，目標存儲區域中僅包括圖3所示的bank0，則pg模塊將目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據發送給tg模塊，并間隔10s之后，等待0.5ms，將存儲地址“00000000”發送給afm模塊，此后，間隔0.5ms將存儲地址“00000001”發送給afm模塊，接著，再間隔0.5ms將存儲地址“00000010”發送給afm模塊，并以此類推。
[0133]
進一步地，本技術實施例提供的存儲器測試方法在執行步驟s400之后，還可以包括步驟s500、步驟s600和步驟s700，用于存儲地址失效測試結果。
[0134]
步驟s500，對目標失效地址和實際數據進行重組設置，獲得第二重組數據。
[0135]
步驟s600，按照afm模塊的外設存儲器所要求的數據格式對第二重組數據進行數據格式轉換。
[0136]
步驟s700，將經過數據格式轉換之后的第二重組數據存儲于外設存儲器中。
[0137]
本技術實施例中，afm模塊的外設存儲器可以是ddr sdram，基于此，外設存儲器所要求的數據格式實際為ddr mig數據格式。此外，本技術實施例中，外設存儲器的設置數量可以是多個，例如，四個，在此情況下，多個外設存儲器的讀取模式便可以設置為乒乓模式，從而提高數據讀寫效率。
[0138]
此外，對于步驟s500，本技術實施例中，其可以通過afm模塊中包括的afm控制模塊執行，且afm控制模塊可以通過先進先出(first input first output，fifo)模塊接收tg模塊發送的實際數據，同時，同樣通過fifo模塊接收與實際數據對應的目標測試數據。通過afm控制模塊執行步驟s500之后，再通過afm模塊中包括的存儲控制模塊執行步驟s600，最后，通過afm模塊中包括的mig ip核模塊執行步驟s700。此后，預設的目標存儲器便可以從外設存儲器中讀取存儲地址失效測試結果，并進行存儲。
[0139]
需要說明的是，本技術實施例中，控制模塊、pg模塊、tg模塊、afm模塊(包括fifo模塊、afm控制模塊、存儲控制模塊和mig ip核模塊)均為針對存儲器測試設備編寫的pfga程序模塊，其用于在存儲器測試設備中配置出對應的硬件電路模塊，實現各自的電路功能。例如，pg模塊用于在存儲器測試設備中配置出數據生成模塊，用于執行步驟s100，以根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據。再例如，tg
模塊用于在存儲器測試設備中配置數據寫入模塊，用于執行步驟s200，以針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中。
[0140]
請參閱圖6，本技術實施例提供的存儲器測試設備100包括數據生成模塊110、數據寫入模塊120、數據讀取模塊130和數據對比模塊140。
[0141]
數據生成模塊110，用于根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中。
[0142]
數據寫入模塊120，用于針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中。
[0143]
數據讀取模塊130，用于從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據。
[0144]
數據對比模塊140，用于對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
[0145]
本技術實施例提供的存儲器測試設備100是基于與存儲器測試方法同樣的發明構思實現的，因此，本技術實施例提供的存儲器測試設備100中，每個硬件電路模塊的具體描述，均可參見前述存儲器測試方法相關實施例中對應步驟的相關描述，此處不作贅述。
[0146]
請再次參閱圖2或圖4，本技術實施例提供的存儲器測試系統包括電子引腳陣列和上述存儲器測試設備，存儲器測試設備通過電子引腳陣列與被測存儲器連接；
[0147]
針對目標存儲區域中的每個存儲位，存儲器測試設備通過電子引腳陣列將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；
[0148]
存儲器測試設備通過電子引腳陣列從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據。
[0149]
進一步地，存儲器測試系統還可以包括上位機，存儲器測試設備與上位機連接；
[0150]
上位機用于獲取測試方式指示信息，并將測試方式指示信息發送給存儲器測試設備；
[0151]
存儲器測試設備用于根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中；
[0152]
針對目標存儲區域中的每個存儲位，通過電子引腳陣列將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；
[0153]
通過電子引腳陣列從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；
[0154]
對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
[0155]
本技術實施例提供的存儲器測試設備是基于與存儲器測試方法同樣的發明構思實現的，因此，本技術實施例提供的存儲器測試設備中，每個硬件電路模塊的具體描述，均可參見前述存儲器測試方法相關實施例中對應步驟的相關描述，此處不作贅述。
[0156]
綜上所述，本技術實施例提供的存儲器測試方法的實施過程中，由于目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據是根據上位機發送的測試方式指示信息自動生成的，且生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據之后，針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中，此后，從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據，并對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，便可以獲得地址失效測試結果，從而實現目標存儲器的地址失效測試，且由于整個地址失效測試過
程自動化程度較高，且所涉及的邏輯處理過程簡單，因此，又能夠保證被測存儲器的地址失效測試效率。
[0157]
本技術實施例提供的存儲器測試設備及系統具有與上述存儲器測試方法相同的有益效果，此處不作贅述。
[0158]
在本技術的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“連接”、“設置”、“安裝”應做廣義理解，例如，可以是機械上的固定連接、可拆卸連接或一體地連接，可以是電學上的電連接、通信連接，其中，通信連接又可以是有線通信連接或無線通信連接，此外，可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，還可以是兩個元件內部的連通，對于本領域的技術人員而言，可以根據具體情況理解上述術語在本技術中的具體含義。此外，術語“第一”、“第二”、“第三”等僅用于區分描述，而不能理解為指示或暗示相對重要性。
[0159]
以上所述僅為本技術的部分實施例而已，并不用于限制本技術，對于本領域的技術人員來說，本技術可以有各種更改和變化。凡在本技術的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本技術的保護范圍之內。
技術特征：
1.一種存儲器測試方法，其特征在于，包括：根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，所述目標存儲區域位于被測存儲器中；針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中；從所述目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；對所述目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。2.根據權利要求1所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，包括：根據所述測試方式指示信息獲取區域選取策略和數據生成策略；根據所述區域選取策略從所述被測存儲器中選取出所述目標存儲區域，所述目標存儲區域中包括至少一個儲存庫；根據所述數據生成策略生成所述目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據。3.根據權利要求1所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中，包括：獲取所述目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址和對應的測試數據；針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，對所述存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據；將所述第一重組數據發送給所述被測存儲器，以供所述被測存儲器將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中。4.根據權利要求3所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述對所述存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據，包括：獲取存儲器測試設備與電子引腳陣列之間的第一連接關系，以及所述電子引腳陣列與所述被測存儲器之間的第二連接關系；根據所述第一連接關系和所述第二連接關系，從所述存儲器測試設備的引腳集合中分別確定出與所述被測存儲器中地址控制引腳數組對應的目標地址控制引腳數組，以及與所述被測存儲器中數據輸入輸出引腳對應的目標數據引腳；根據所述目標地址控制引腳數組和所述目標數據引腳對所述存儲位的存儲地址和對應的測試數據進行重組設置，獲得第一重組數據。5.根據權利要求4所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述將所述第一重組數據發送給所述被測存儲器，以供所述被測存儲器將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中，包括：按照所述第一連接關系將所述第一重組數據發送給所述電子引腳陣列，以供所述電子引腳陣列對所述存儲位對應的測試數據進行電平轉換，并按照所述第二連接關系將所述存儲位的存儲地址和經過電平轉換之后的測試數據發送給所述被測存儲器，以供所述被測存儲器將所述經過電平轉換之后的測試數據寫入所述存儲位中。6.根據權利要求1所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述從所述目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據，包括：
針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，在通過電子引腳陣列從所述存儲位中讀取實際數據，并對所述實際數據進行電平比較之后，從所述電子引腳陣列獲取經過電平比較之后的實際數據。7.根據權利要求1所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述對所述目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果，包括：從所述目標存儲區域中每讀取一條實際數據，則根據所述實際數據的讀取次序，確定出與所述實際數據對應的目標測試數據；判斷所述實際數據與所述目標測試數據是否一致；若所述實際數據與所述目標測試數據不一致，則獲得包括目標失效地址和所述實際數據的地址失效測試結果，所述目標失效地址為所述目標存儲區域中讀取出所述實際數據的存儲位的存儲地址。8.根據權利要求7所述的存儲器測試方法，其特征在于，根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據之后，所述存儲器測試方法還包括：在預設時間長度之后，按照預設時間間隔，將所述目標存儲區域中每個存儲位的存儲地址依次發送給地址失效存儲模塊；所述獲得包括目標失效地址和所述實際數據的地址失效測試結果，包括：通過所述地址失效存儲模塊接收所述實際數據時，獲取當前時刻所述地址失效存儲模塊接收到的存儲地址，以獲得包括所述目標失效地址和所述實際數據的地址失效測試結果，所述目標失效地址為當前時刻所述地址失效存儲模塊接收到的存儲地址。9.根據權利要求7所述的存儲器測試方法，其特征在于，所述對所述目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果之后，所述存儲器測試方法還包括：對所述目標失效地址和所述實際數據進行重組設置，獲得第二重組數據；按照所述地址失效存儲模塊的外設存儲器所要求的數據格式對所述第二重組數據進行數據格式轉換；將經過數據格式轉換之后的第二重組數據存儲于所述外設存儲器中。10.一種存儲器測試設備，其特征在于，包括：數據生成模塊，用于根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，所述目標存儲區域位于被測存儲器中；數據寫入模塊，用于針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中；數據讀取模塊，用于從所述目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；數據對比模塊，用于對所述目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。11.一種存儲器測試系統，其特征在于，包括電子引腳陣列和存儲器測試設備，所述存儲器測試設備通過所述電子引腳陣列與所述被測存儲器連接；針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，所述存儲器測試設備通過所述電子引腳陣列將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中；
所述存儲器測試設備通過所述電子引腳陣列從所述目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據。12.根據權利要求11所述的存儲器測試系統，其特征在于，所述存儲器測試系統還包括上位機，所述存儲器測試設備與所述上位機連接；所述上位機用于獲取測試方式指示信息，并將所述測試方式指示信息發送給所述存儲器測試設備；所述存儲器測試設備用于：根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，所述目標存儲區域位于被測存儲器中；針對所述目標存儲區域中的每個存儲位，通過所述電子引腳陣列將所述存儲位對應的測試數據寫入所述存儲位中；通過所述電子引腳陣列從所述目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；對所述目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。
技術總結
本申請涉及存儲器的設計與制造領域，具體而言，涉及一種存儲器測試方法、設備及系統。本申請實施例提供的存儲器測試方法，包括：根據上位機發送的測試方式指示信息，生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據，目標存儲區域位于被測存儲器中；針對目標存儲區域中的每個存儲位，將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中；從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據；對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比，獲得地址失效測試結果。本申請實施例提供的存儲器測試方法能夠實現被測存儲器的地址失效測試，且能夠保證被測存儲器的地址失效測試效率。存儲器的地址失效測試效率。存儲器的地址失效測試效率。
