一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法、系統(tǒng)、設備及介質與流程
1.本發(fā)明涉及腐蝕與防護技術領域，尤其涉及一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法、系統(tǒng)、設備及介質。
背景技術：
2.耐候鋼抗大氣腐蝕性能相對于碳鋼表現(xiàn)出明顯的優(yōu)勢。經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)耐候鋼的抗大氣腐蝕能力與其表面逐漸形成的致密氧化層有關，該氧化層可阻止腐蝕介質的進入，從而阻止或者減緩鋼鐵材料銹蝕的繼續(xù)發(fā)展。因此，對耐候鋼表面銹層開展相關研究十分重要也很必要。
3.現(xiàn)有技術中，對耐候鋼表面銹層的研究目前主要停留在數(shù)據(jù)搜集以及定性分析階段，分析方法主要有：一、利用掃描電鏡觀察銹層截面形貌；二、將耐候鋼表面銹層刮下來，利用紅外光譜、拉曼光譜、x射線衍射光譜分析銹層組分；三、利用電化學測試得到銹層阻抗大小，推斷銹層氧化進程等。另外銹層中α-feooh的致密性較好，特別是內銹層中α-feooh含量的提供高能明顯的提高整個銹層的耐蝕性能，因此，能較好地分析出內銹層的成分及各成分的含量，對評價耐候鋼的耐蝕性提供了強有力的支撐。而紅外光譜、拉曼光譜、x射線衍射光譜都能較好地分析耐候鋼表面銹層組分，但這些方法需要將銹層從試樣表面刮下來，且有的試驗方法如x射線衍射光譜在測試時，銹層的質量需要達到2g左右，這些方法雖然可以解決銹層組分的問題，但是也有一定的不足之處，一方面將銹層從試樣表面刮下來破壞了銹層，也可能存在刮不干凈，導致分析結果不全面；另一方面銹層刮下來后，已經(jīng)將內外銹層混在一起，這樣的話測出來的銹層成分分布情況，從而無法區(qū)分內、外銹層的差異，由此影響了對材料的整個銹蝕進程及后期耐蝕性的判斷和分析。
技術實現(xiàn)要素：
4.本技術實施例通過提供一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法、系統(tǒng)、設備及介質，至少部分解決了現(xiàn)有技術中切割截面和掛銹層會破壞銹層內、外銹層的差異的技術問題，實現(xiàn)了對銹層分析更為準確的檢測和分析的技術效果。
5.第一方面，為解決上述技術問題，本發(fā)明的實施例提供了如下技術方案：
6.一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法，包括：
7.對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；
8.通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；
9.對任一上述銹層的組分進行拉曼光譜分析。
10.可選的，上述通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離的步驟，還包括：
11.通過控制上述輝光放電激發(fā)的激發(fā)時間，對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離。
12.可選的，上述通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離的步驟，還包括：
13.在初次進行剝離并完成拉曼光譜分析后，利用帶有定位裝置的夾具對上述區(qū)域進行定位；
14.當基于同一上述區(qū)域進行二次剝離時，基于上述定位通過預設傳動機構恢復至原始位置。
15.可選的，上述利用帶有定位裝置的夾具對上述區(qū)域進行定位的步驟，還包括：
16.在上述區(qū)域上選取一點作為基準點；
17.控制帶有定位裝置的夾具夾持上述耐候鋼；
18.基于上述定位裝置以及對應的預設傳動機構建立坐標軸；
19.根據(jù)上述坐標軸獲取上述基準點的坐標信息。
20.可選的，上述在上述區(qū)域上選取一點作為基準點的步驟，還包括：
21.將上述區(qū)域設置為圓形狀，以上述圓形的圓心作為基準點。
22.可選的，上述對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理的步驟，還包括：
23.利用預設絕緣材料將上述區(qū)域填平，并使上述絕緣材料輝光光譜陽極電極的橡膠圈重合。
24.可選的，上述利用預設絕緣材料將上述區(qū)域填平的步驟，還包括：
25.利用硅橡膠在上述區(qū)域上依次進行填平和晾干，并重復多次。
26.第二方面，提供一種分析耐候鋼表面銹層成分的系統(tǒng)，上述系統(tǒng)包括：
27.預處理模塊，用于對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；
28.銹層剝離模塊，用于通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；
29.分析模塊，對任一上述銹層的組分進行拉曼光譜分析
30.第三方面，提供一種電子設備，上述電子設備包括：存儲器、處理器及存儲在上述存儲器上并可在上述處理器上運行的計算機程序，上述處理器執(zhí)行上述計算機程序時實現(xiàn)如第一方面上述方法對應的步驟。
31.第四方面，提供一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面上述方法對應的步驟。
32.本技術實施例中提供的一個或多個技術方案，至少具有如下技術效果或優(yōu)點：
33.利用預設絕緣材質，例如硅橡膠等，對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理，由此使得輝光光譜陽極在進行抽真空時，其真空度能達到分析要求，從而對試樣表面銹層進行逐層剝離銹層。并對處理后的樣品表面的組分進行原位無損分析，通過輝光激發(fā)，剝離不同深度的銹層實現(xiàn)對不同深度銹層組分的跟蹤分析。同時，設計一個精確的定位裝置，實現(xiàn)不同時間段對同一部位進行銹層剝離。從而實現(xiàn)對耐候鋼整個銹層由表面到鋼基的實時跟蹤分析。
附圖說明
34.為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
35.圖1為本技術提供的一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法的流程圖；
36.圖2為本技術提供的s450ew超級耐候鋼表面未處理時的拉曼光譜圖；
37.圖3為本技術提供的s450ew超級耐候鋼輝光放電激發(fā)60min后表面拉曼光譜圖；
38.圖4為本技術提供的s450ew超級耐候鋼輝光放電激發(fā)120min后表面拉曼光譜圖；
39.圖5為本技術提供的s450ew超級耐候鋼輝光放電激發(fā)180min后表面拉曼光譜圖；
40.圖6為本技術提供的一種分析耐候鋼表面銹層成分的系統(tǒng)的結構示意圖；
41.圖7為本技術提供的一種電子設備的結構示意圖。
具體實施方式
42.為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本發(fā)明實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。
43.因此，以下對在附圖中提供的本發(fā)明的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本發(fā)明的范圍，而是僅僅表示本發(fā)明的選定實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
44.應注意到：相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步定義和解釋。
45.在本發(fā)明的描述中，還需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術語“設置”應做廣義理解，例如，可以是固定設置，也可以是可拆卸設置，或一體地設置；可以是機械設置，也可以是電設置；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以具體情況理解上述術語在本發(fā)明中的具體含義。
46.應當理解本發(fā)明實施例以及實施例中的具體特征是對本技術技術方案的詳細的說明，而不是對本技術技術方案的限定，在不沖突的情況下，本技術實施例以及實施例中的技術特征可以相互組合。
47.本技術實施例通過提供一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法、系統(tǒng)、設備及介質，改善了現(xiàn)有技術中切割截面和掛銹層會破壞銹層內、外銹層的差異的技術問題，實現(xiàn)了對銹層分析更為準確的檢測和分析的技術效果。
48.本技術實施例的技術方案為解決上述技術問題，總體思路如下：
49.利用預設絕緣材質，例如硅橡膠等，對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理，由此使得輝光光譜陽極在進行抽真空時，其真空度能達到分析要求，從而對試樣表面銹層進行逐層剝離銹層。并對處理后的樣品表面的組分進行原位無損分析，通過輝光激發(fā)，剝離不同深度的銹層實現(xiàn)對不同深度銹層組分的跟蹤分析。同時，設計一個精確的定位裝置，實現(xiàn)不同時間段對同一部位進行銹層剝離。從而實現(xiàn)對耐候鋼整個銹層由表面到鋼基的實時跟蹤分析。
50.本技術實施例中，提供了如圖1所示的一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法，該方法包括步驟s101～s103：
51.步驟s101，對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；
52.需要說明的是，在利用輝光放電進行剝離之前，需要對待處理的耐候鋼進行預處理，使輝光光譜陽極在進行抽真空時，其真空度能達到分析要求。故而對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平。
53.步驟s102，通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；
54.需要說明的是，輝光放電發(fā)射光譜法是一種依據(jù)惰性氣體在低氣壓下放電的原理而發(fā)展起來的光譜分析技術。輝光放電光譜法是一種適合于金屬、非金屬、薄膜、半導體、絕緣體和有機材料分析的表面分析技術。輝光光譜的分析時間較短"一般為幾分鐘到十幾分鐘，深度分辨率可以達到納米級。其他表面分析方法比較，輝光光譜具有分析速度快、定量方便、價格便宜和易于操作等優(yōu)勢。由此本實施例采用輝光放電發(fā)射光譜能對試樣從表面到鋼基進行逐層剝離，從而得到各個元素隨深度的含量分布。
55.步驟s103，對任一上述銹層的組分進行拉曼光譜分析。
56.需要說明的是，利用拉曼光譜分析是將由輝光放電激發(fā)處理后的待處理區(qū)域放入拉曼光譜進樣室，選取激發(fā)后表面進行該層的物相分析。
57.還需要說明的是，在放入拉曼光譜進樣室的過程中，可以采用人工放入曼光譜進樣室，也可以設置傳送帶進行自動運輸，例如在接收到來自輝光放電設備激發(fā)完畢的信號后，控制夾持待處理耐候鋼的夾具，將待處理的耐候鋼放置于傳送帶上，而后由機械臂再放入光譜進樣室進行物相分析。
58.進一步地，上述通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離的步驟，還包括：通過控制上述輝光放電激發(fā)的激發(fā)時間，對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離。
59.需要說明的是，對于輝光放電設備，不同銹層的剝離可以通過控制輝光放電的激發(fā)功率或激發(fā)時間進行完成，但對于輝光放電設備來說，控制功率需要掌握功率與不同銹層剝離速度的對應關系，其操作較為復雜。故而本實施例采用恒定功率，采用控制激發(fā)時間，來控制剝離深度，也方便操作人員進行觀察，提高了便捷性。
60.進一步地，上述通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離的步驟，還包括：
61.在初次進行剝離并完成拉曼光譜分析后，利用帶有定位裝置的夾具對上述區(qū)域進行定位；當基于同一上述區(qū)域進行二次剝離時，基于上述定位通過預設傳動機構恢復至原始位置。
62.需要說明的是，銹層的垂直分布情況，往往需要多層同時檢測分析，故而需要對同一位置不同深度進行檢測，但在第一次檢測后，位置已經(jīng)發(fā)生了移動，而重新恢復位置較為繁瑣。故而本實施例采用帶有定位裝置的夾具對待處理的耐候鋼進行定位，其中的定位裝置可以采用在移動方向上利用多個激光設備基于固定的基準板進行測距，從而獲得具有高精度的位置數(shù)據(jù)。并根據(jù)此位置數(shù)據(jù)通過控制預設傳動機構恢復至原始位置。其中傳動機構可以是伺服電機驅動絲桿控制夾具移動，也可以伺服電機控制同步帶進行移動。
63.進一步地，上述利用帶有定位裝置的夾具對上述區(qū)域進行定位的步驟，還包括：在上述區(qū)域上選取一點作為基準點；控制帶有定位裝置的夾具夾持上述耐候鋼；基于上述定位裝置以及對應的預設傳動機構建立坐標軸；根據(jù)上述坐標軸獲取上述基準點的坐標信息。
64.需要說明的是，耐候鋼上待處理區(qū)域可以根據(jù)需要進行設置，其形狀可以是矩形、圓形、三角形或其他形狀。若是矩形，則基準點采用矩形對角線的焦點；若是三角形，則基準點采用重心；若是圓形，則基準點采用圓心。而夾具可以采用帶有試樣夾的機械臂進行夾取，根據(jù)對應的傳動機構建立坐標軸，即該基準點就是輝光放電發(fā)射光譜儀陽極對應的分析點，定位裝置橫縱坐標根據(jù)分析測試需要進行設置，在定位器上設有0點位置，其他位置相對0點進行對應設置，定位裝置橫坐標可以左右分別移動，縱坐標上下移動，通過在定位裝置上設置坐標位置，確定試樣的具體位置，使分析位置為所畫硅橡膠圈的中心。由此便于繼續(xù)二次檢測。
65.進一步地，上述在上述區(qū)域上選取一點作為基準點的步驟，還包括：
66.將上述區(qū)域設置為圓形狀，以上述圓形的圓心作為基準點。
67.需要說明的是，因為輝光放電發(fā)射光譜陽極為圓形，故而為了盡可能和輝光放電發(fā)射光譜陽極貼合，本實施例優(yōu)選待處理區(qū)域為圓形。又因為輝光放電發(fā)射光譜陽極為的直徑為4mm，因此，將需要分析的部位盡量控制在直徑為4mm的圓內，定好圓心，半徑選5mm處畫圓。
68.進一步地，上述對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理的步驟，還包括：
69.利用預設絕緣材料將上述區(qū)域填平，并使上述絕緣材料輝光光譜陽極電極的橡膠圈重合。
70.需要說明的是，對于填平所用材料，因輝光放電發(fā)射光譜的特定因素，選用絕緣材料。同時為了便于填平操作，采用流體填平并晾干即可。
71.進一步地，上述利用預設絕緣材料將上述區(qū)域填平的步驟，還包括：
72.利用硅橡膠在上述區(qū)域上依次進行填平和晾干，并重復多次。
73.需要說明的是，對于絕緣材料，本實施例優(yōu)選硅橡膠，即利用毛刷沾上硅橡膠畫一個半徑為6mm的圓，將待處理區(qū)域完全覆蓋，圓內外徑差為2mm，也就是說圓環(huán)寬2mm，待硅橡膠干了之后，在相同部位，重復操作3-5次，待硅橡膠完全晾干；這一步旨在將凹凸不平的銹層部分利用硅橡膠填平，讓硅橡膠與輝光光譜陽極電極的橡膠圈重合，當開啟抽真空時，陽極里的真空度能達到分析要求。
74.現(xiàn)以超級耐候鋼s450ew為例，給出具體實驗數(shù)據(jù)進行描述：
75.首先利用拉曼光譜對超級耐候鋼表面銹層進行組分分析，即未對s450ew超級耐候鋼表面進行處理，如圖2所示。銹層在249、384cm-1
處有明顯的拉曼特征峰，說明銹層的主要成分為α-feooh和γ-feooh。此時γ-feooh的拉曼峰峰高比α-feooh的拉曼峰峰高略高。
76.而后進行第一層檢測，利用輝光放電發(fā)射光譜法對帶銹層的超級耐候鋼s450ew進行預處理，首先將試樣夾在定位裝置上，設置橫坐標x為10mm，縱坐標y為40mm，定位好后，以x和y相交的點為原點，半徑為6mm畫圓，刷涂硅橡膠，待硅橡膠近干，再刷涂一次，重復涂刷3次，待硅橡膠完全干燥，將試樣作為陽極，吸附于輝光放電光譜儀進樣室內，使陽極外面墊圈與硅橡膠重合；而后抽真空，等待試樣吸附牢靠，真空度達到儀器要求后，開始進行激發(fā)。激發(fā)功率為20kw，激發(fā)時間為60min，測量激發(fā)深度在25μm的銹層，待激發(fā)完畢后，將試樣取下，放入拉曼光譜進樣室內，開始拉曼光譜分析，分析結果如圖3所示，測得s450ew銹層在229、294、406cm-1
處有明顯的拉曼特征峰，與標準圖譜對比分析可知，此時銹層的主要成分為α-fe2o3。
77.繼續(xù)進行第二層的分析(即同一位置二次檢測)，且檢測深度增加后，將試樣再次夾在定位裝置上，同樣設置為橫坐標x為10mm，縱坐標y為40mm，則可以對上次做過輝光分析的部位繼續(xù)進行分析，激發(fā)功率為20kw，由于上一次已經(jīng)將第一層剝離，故而激發(fā)時間依舊設置為60min，測量激發(fā)深度在48μm的銹層，待激發(fā)完畢后，將試樣取下，放入拉曼光譜進樣室內，開始拉曼光譜分析，分析結果如圖4所示(其結果與直接輝光激發(fā)時間120min結果相同)，銹層在251、292、378、676cm-1
處出現(xiàn)了明顯的拉曼特征峰，與標準圖庫對比，可知此處銹層的住喲啊成分為α-feooh和γ-feooh，而676cm-1
處對應的拉曼峰說明此處可能還有fe3o4。對比分析圖1和圖3發(fā)現(xiàn)，圖3中251cm-1
處的拉曼峰峰高比圖1中251cm-1
處峰高要低一些，說明γ-feooh的含量更低一些，而378cm-1
處拉曼峰峰高比較接近，說明從外到里銹層中α-feooh的含量比較穩(wěn)定，變化較小。
78.最后繼續(xù)進行第三層的分析(即同一位置第三次檢測)，將試樣再次夾在定位裝置上，同樣設置為橫坐標x為10mm，縱坐標y為40mm，則可以對上次做過輝光分析的部位繼續(xù)進行分析，激發(fā)功率為20kw，激發(fā)時間依然設置為60min，即前兩次測試銹層已經(jīng)剝離，測試第三層銹層，測量激發(fā)深度在68μm的銹層；待激發(fā)完畢后，將試樣取下，放入拉曼光譜進樣室內，開始拉曼光譜分析，分析結果如圖5所示(其結果與直接輝光激發(fā)時間180min結果相同)，在拉曼光譜上幾乎看不到明顯的特征峰，說明基本已經(jīng)激發(fā)到了基材，也就表明整個銹層都已經(jīng)激發(fā)掉了。由此達到逐層剝離進行分析的效果，相對于切割截面，不會導致因刀具切應力對銹層造成破壞，盡可能保證銹層在需要深度的完整性。同時相對于刮取銹層來說，也不會造成內外銹層混合，導致無法準確獲取垂直方向上銹層元素的分布，從而提高了銹層檢測的準確性。
79.基于同一發(fā)明構思，本技術實施例提供了一種分析耐候鋼表面銹層成分的系統(tǒng)，如圖6所示，包括：
80.預處理模塊201，用于對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；
81.銹層剝離模塊202，用于通過輝光放電的激發(fā)對上述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；
82.分析模塊203，對任一上述銹層的組分進行拉曼光譜分析。
83.基于同一發(fā)明構思，本技術實施例提供了一種電子設備，如圖7所示，包括：存儲器302、處理器301及存儲在上述存儲器302上并可在上述處理器301上運行的計算機程序，上述處理器301執(zhí)行上述計算機程序時實現(xiàn)上述分析耐候鋼表面銹層成分的方法。
84.基于同一發(fā)明構思，本實施例提供了一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器301執(zhí)行時實現(xiàn)上述分析耐候鋼表面銹層成分的方法。
85.本領域內的技術人員應明白，本發(fā)明的實施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計算機程序產品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結合軟件和硬件方面的實施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個或多個其中包含有計算機可用程序代碼的計算機可用存儲介質(包括但不限于磁盤存儲器、cd-rom、光學存儲器等)上實施的計算機程序產品的形式。
86.本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實施例的方法、設備(系統(tǒng))、和計算機程序產品的流程圖和/或方框圖來描述的。應理解可由計算機程序指令實現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流
程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結合。可提供這些計算機程序指令到通用計算機、專用計算機、嵌入式處理機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設備的處理器以產生一個機器，使得通過計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設備的處理器執(zhí)行的指令產生用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的裝置。
87.這些計算機程序指令也可裝載到計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設備上，使得在計算機或其他可編程設備上執(zhí)行一系列操作步驟以產生計算機實現(xiàn)的處理，從而在計算機或其他可編程設備上執(zhí)行的指令提供用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。
88.盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，但本領域內的技術人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對這些實施例作出另外的變更和修改。所以，所附權利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。
89.顯然，本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內。
技術特征：
1.一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法，其特征在于，所述方法包括：對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；通過輝光放電的激發(fā)對所述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；對任一所述銹層的組分進行拉曼光譜分析。2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過輝光放電的激發(fā)對所述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離的步驟，還包括：通過控制所述輝光放電激發(fā)的激發(fā)時間，對所述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離。3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過輝光放電的激發(fā)對所述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離的步驟，還包括：在初次進行剝離并完成拉曼光譜分析后，利用帶有定位裝置的夾具對所述區(qū)域進行定位；當基于同一所述區(qū)域進行二次剝離時，基于所述定位通過預設傳動機構恢復至原始位置。4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述利用帶有定位裝置的夾具對所述區(qū)域進行定位的步驟，還包括：在所述區(qū)域上選取一點作為基準點；控制帶有定位裝置的夾具夾持所述耐候鋼；基于所述定位裝置以及對應的預設傳動機構建立坐標軸；根據(jù)所述坐標軸獲取所述基準點的坐標信息。5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述區(qū)域上選取一點作為基準點的步驟，還包括：將所述區(qū)域設置為圓形狀，以所述圓形的圓心作為基準點。6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理的步驟，還包括：利用預設絕緣材料將所述區(qū)域填平，并使所述絕緣材料輝光光譜陽極電極的橡膠圈重合。7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述利用預設絕緣材料將所述區(qū)域填平的步驟，還包括：利用硅橡膠在所述區(qū)域上依次進行填平和晾干，并重復多次。8.一種分析耐候鋼表面銹層成分的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：預處理模塊，用于對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；銹層剝離模塊，用于通過輝光放電的激發(fā)對所述區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；分析模塊，對任一所述銹層的組分進行拉曼光譜分析。9.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)權利要求1～7中任一所述的方法步驟。10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權利要求1～7任一項所述方法對應的步驟。
技術總結
本發(fā)明公開了一種分析耐候鋼表面銹層成分的方法、系統(tǒng)、設備及介質，其包括對耐候鋼待處理的區(qū)域進行填平和抽真空處理；通過輝光放電的激發(fā)對區(qū)域不同深度的銹層進行剝離；對任一銹層的組分進行拉曼光譜分析。其能夠實現(xiàn)對銹層逐進行層剝離分析的效果，相對于切割截面分析，不會導致因刀具切應力對銹層造成破壞，盡可能保證銹層在需要深度的完整性。同時相對于刮取銹層來說，也不會造成內外銹層混合，導致無法準確獲取垂直方向上銹層元素的分布，從而提高了銹層檢測的準確性。而提高了銹層檢測的準確性。而提高了銹層檢測的準確性。
