一種AD閃存芯片的信息記錄方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)與流程
一種nand閃存芯片的信息記錄方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)
技術(shù)領(lǐng)域
1.本技術(shù)涉及信息處理的領(lǐng)域，尤其是涉及一種nand閃存芯片的信息記錄方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)。
背景技術(shù)：
2.固態(tài)硬盤發(fā)展到現(xiàn)在已經(jīng)有30多年，隨著半導(dǎo)體技術(shù)越來越先進，nand閃存芯片從2d走到3d，經(jīng)歷了slc、mlc、tlc、qlc等迭代，層數(shù)越來越多，容量越做越大；同時穩(wěn)定性和壽命相對也變差，而固態(tài)硬盤對nand閃存芯片要求會高一些，在生產(chǎn)之前需要先對nand閃存芯片做rdt測試（reliability demonstration testing 可靠性開發(fā)測試），提前篩選出容易出現(xiàn)問題的弱塊壞塊并標(biāo)記，避免后面把數(shù)據(jù)寫到這樣的弱塊或壞塊里邊導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。
3.目前，rdt測試的結(jié)果只用做篩選nand閃存芯片的數(shù)據(jù)，并不會保存下來作為后續(xù)生產(chǎn)芯片質(zhì)量的追溯。為了解決閃存芯片測試信息追溯問題，人們普遍采用和人工記錄的方式進行測試結(jié)果的記錄，但是由于每次測試的數(shù)量都很多，靠人工記錄很容易出現(xiàn)錯誤，因此在后續(xù)進行信息查詢時，存在信息無法查到的情況，從而降低了信息的查詢效率。
技術(shù)實現(xiàn)要素：
4.為了提高信息的查詢效率，本技術(shù)提供一種nand閃存芯片的信息記錄方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)。
5.第一方面，本技術(shù)提供一種nand閃存芯片的信息記錄方法，采用如下的技術(shù)方案：一種nand閃存芯片的信息記錄方法，包括：當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及uid信息，所述測試數(shù)據(jù)信息為nand閃存測試板的nand閃存芯片的rdt測試結(jié)果數(shù)據(jù)，所述uid信息為所述nand閃存芯片的標(biāo)識id；對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息；將所述測試結(jié)果信息與所述uid信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息；對所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表。
6.通過采用上述技術(shù)方案，在對nand閃存芯片進行信息記錄時，將nand閃存芯片放置在nand閃存測試板內(nèi)，然后對nand閃存測試板進行rdt測試，然后獲取測試后的測試數(shù)據(jù)信息以及nand閃存芯片的uid信息，將獲取到的測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，然后將測試結(jié)果信息以及uid信息進行綁定，生成對應(yīng)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息，通過將關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，得到測試數(shù)據(jù)表，并將測試數(shù)據(jù)表進行保存，當(dāng)工作人員查詢測試數(shù)據(jù)信息時，將uid信息初入至查詢欄中進行查詢，可快捷得到與uid信息相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)表，從而提高了信息的查詢效率。
7.在另一種可能實現(xiàn)的方式中，所述對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，包括：
基于所述測試數(shù)據(jù)信息確定所述nand閃存測試后產(chǎn)生的壞塊數(shù)量信息；確定所述壞塊數(shù)量信息是否超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)；若所述壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成異常告警信息，將所述異常告警信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息；若所述壞塊數(shù)量信息未超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成測試通過信息，并將所述測試通過信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第二測試結(jié)果信息；將所述第一測試結(jié)果信息與所述第二測試結(jié)果信息進行信息整理，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息。
8.通過上述技術(shù)方案，在對測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析時，根據(jù)測試數(shù)據(jù)信息確定出nand閃存測試板中存放的nand閃存芯片的壞塊數(shù)量信息，然后判斷壞塊數(shù)量信息的壞塊數(shù)量是否超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，若超過，則生成異常告警信息，若不超過，則生成測試通過信息，然后將異常告警信息與測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息，將測試通過信息與測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第二測試結(jié)果信息，然后對第一測試結(jié)果信息與第二測試結(jié)果信息進行信息整理，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，從而在工作人員對測試數(shù)據(jù)表進行查詢時，通過第一測試結(jié)果信息或第二測試結(jié)果信息判斷處當(dāng)前nand閃存測試板是否通過rdt測試。
9.在另一種可能實現(xiàn)的方式中，所述將所述異常告警信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息，之后還包括：對所述第一測試結(jié)果信息進行分析，確定存在異常的錯誤節(jié)點信息；獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息；將所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果；判斷所述對比結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，若滿足，則確定解決方案信息。
10.通過上述技術(shù)方案，在對異常告警信息進行解決方案確定時，對生成的第一測試結(jié)果信息進行分析，得到的nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的錯誤節(jié)點信息，然后獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息，將錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果，并判斷比對結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，即判斷比對結(jié)果是否為完全匹配，若比對結(jié)果滿足預(yù)設(shè)條件，則根據(jù)預(yù)設(shè)解決方案以及比對結(jié)果確定解決方案信息，從而便于工作人員對異常告警信息的處理。
11.在另一種可能實現(xiàn)的方式中，所述將所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行比對，包括：分別對所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行分割處理；根據(jù)分割后的所述錯誤節(jié)點信息與分割后的所述問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對。
12.通過上述技術(shù)方案，基于獲取到錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息，分別對錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息中的每個節(jié)點信息進行分割處理，并將分割后的錯誤節(jié)點信息與分割后的問題信息進行一一對應(yīng)比對，得到錯誤節(jié)點信息中與問題節(jié)點信息中相對應(yīng)的節(jié)點信息，從而提高了節(jié)點信息查的準(zhǔn)確率。
13.在另一種可能實現(xiàn)的方式中，所述根據(jù)分割后的所述錯誤節(jié)點信息與分割后的所述問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對，之后還包括：分割后的所述錯誤節(jié)點信息包括至少一個分割結(jié)果；
若所述對比結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)條件，則將比對不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)注，并確定標(biāo)注處理的分割結(jié)果數(shù)量；控制顯示所述分割結(jié)果數(shù)量。
14.通過上述技術(shù)方案，當(dāng)比對結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)條件時，則表示分割后的錯誤節(jié)點信息與分割后的問題節(jié)點信息不完全對應(yīng)匹配，將與問題節(jié)點信息不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)注，并統(tǒng)計顯示標(biāo)注處理的分割結(jié)果數(shù)量，便于工作人員及時對不匹配的分割結(jié)果進行異常處理。
15.在另一種可能實現(xiàn)的方式中，所述對所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表，之后還包括：獲取當(dāng)前時間信息，并將所述測試數(shù)據(jù)表與所述當(dāng)前時間信息綁定。
16.通過上述技術(shù)方案，將當(dāng)前時間信息與測試數(shù)據(jù)表相綁定，有助于工作人員根據(jù)時間信息對多個測試數(shù)據(jù)表進行篩查。
17.在另一種可能實現(xiàn)的方式中，所述方法還包括：獲取測試環(huán)境信息，所述測試環(huán)境信息為所述nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的環(huán)境信息；根據(jù)所述環(huán)境信息確定溫濕度參數(shù)，并判斷所述溫濕度參數(shù)是否滿足于預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，若不滿足，則生成環(huán)境告警信息。
18.通過上述技術(shù)方案，在對nand閃存測試板進行rdt測試時，獲取測試環(huán)境信息，并根據(jù)環(huán)境信息確定溫濕度參數(shù)，然后將溫濕度參數(shù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進行比對，確定當(dāng)前的測試環(huán)境信息是否正常，若不正常，則生成環(huán)境告警信息，告知工作人員及時對測試環(huán)境進行維護。
19.第二方面，本技術(shù)提供一種nand閃存芯片的信息記錄裝置，采用如下的技術(shù)方案：一種nand閃存芯片的信息記錄裝置，包括：獲取模塊，用于當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及uid信息，所述測試數(shù)據(jù)信息為nand閃存測試板的nand閃存芯片的rdt測試結(jié)果數(shù)據(jù)，所述uid信息為所述nand閃存芯片的標(biāo)識id；分析模塊，用于對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息；綁定模塊，用于將所述測試結(jié)果信息與所述uid信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息；存儲模塊，用于對所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表。
20.通過采用上述技術(shù)方案，在對nand閃存芯片進行信息記錄時，將nand閃存芯片放置在nand閃存測試板內(nèi)，然后對nand閃存測試板進行rdt測試，然后獲取測試后的測試數(shù)據(jù)信息以及nand閃存芯片的uid信息，將獲取到的測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，然后將測試結(jié)果信息以及uid信息進行綁定，生成對應(yīng)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息，通過將關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，得到測試數(shù)據(jù)表，并將測試數(shù)據(jù)表進行保存，當(dāng)工作人員查詢測試數(shù)據(jù)信息時，將uid信息初入至查詢欄中進行查詢，可快捷得到與uid信息相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)表，從而提高了信息的查詢效率。
21.在一種可能的實現(xiàn)方式中，所述分析模塊在對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，
生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，具體用于：基于所述測試數(shù)據(jù)信息確定所述nand閃存測試后產(chǎn)生的壞塊數(shù)量信息；確定所述壞塊數(shù)量信息是否超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)；若所述壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成異常告警信息，將所述異常告警信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息；若所述壞塊數(shù)量信息未超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成測試通過信息，并將所述測試通過信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第二測試結(jié)果信息；將所述第一測試結(jié)果信息與所述第二測試結(jié)果信息進行信息整理，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息。
22.在另一種可能的實現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：節(jié)點確定模塊、節(jié)點獲取模塊、節(jié)點比對模塊以及方案確定模塊，其中，所述節(jié)點確定模塊，用于對所述第一測試結(jié)果信息進行分析，確定存在異常的錯誤節(jié)點信息；所述節(jié)點獲取模塊，用于獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息；所述節(jié)點比對模塊，用于將所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果；所述方案確定模塊，用于判斷所述對比結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，若滿足，則確定解決方案信息。
23.在另一種可能的實現(xiàn)方式中，所述節(jié)點比對模塊在將所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行比對時，具體用于：分別對所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行分割處理；根據(jù)分割后的所述錯誤節(jié)點信息與分割后的所述問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對。
24.在另一種可能的實現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：分割模塊、標(biāo)注模塊以及控制顯示模塊，其中，所述分割模塊，用于分割后的所述錯誤節(jié)點信息包括至少一個分割結(jié)果；所述標(biāo)注模塊，用于當(dāng)所述對比結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)條件時，將比對不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)注，并確定標(biāo)注處理的分割結(jié)果數(shù)量；所述控制顯示模塊，用于控制顯示所述分割結(jié)果數(shù)量。
25.在另一種可能的實現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：時間綁定模塊，其中，所述時間綁定模塊，用于獲取當(dāng)前時間信息，并將所述測試數(shù)據(jù)表與所述當(dāng)前時間信息綁定。
26.在另一種可能的實現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：環(huán)境獲取模塊以及環(huán)境判斷模塊，其中，所述環(huán)境獲取模塊，用于獲取測試環(huán)境信息，所述測試環(huán)境信息為所述nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的環(huán)境信息；所述環(huán)境判斷模塊，用于根據(jù)所述環(huán)境信息確定溫濕度參數(shù)，并判斷所述溫濕度參數(shù)是否滿足于預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，若不滿足，則生成環(huán)境告警信息。
27.第三方面，本技術(shù)提供一種電子設(shè)備，采用如下的技術(shù)方案：一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括：
至少一個處理器；存儲器；至少一個應(yīng)用程序，其中至少一個應(yīng)用程序被存儲在存儲器中并被配置為由至少一個處理器執(zhí)行，所述至少一個應(yīng)用程序配置用于：執(zhí)行上述nand閃存芯片的信息記錄方法。
28.第四方面，本技術(shù)提供一種計算機可讀存儲介質(zhì)，采用如下的技術(shù)方案：一種計算機可讀存儲介質(zhì)，包括：存儲有能夠被處理器加載并執(zhí)行上述nand閃存芯片的信息記錄方法的計算機程序。
29.綜上所述，本技術(shù)包括以下有益技術(shù)效果：1、在對nand閃存芯片進行信息記錄時，將nand閃存芯片放置在nand閃存測試板內(nèi)，然后對nand閃存測試板進行rdt測試，然后獲取測試后的測試數(shù)據(jù)信息以及nand閃存芯片的uid信息，將獲取到的測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，然后將測試結(jié)果信息以及uid信息進行綁定，生成對應(yīng)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息，通過將關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，得到測試數(shù)據(jù)表，并將測試數(shù)據(jù)表進行保存，當(dāng)工作人員查詢測試數(shù)據(jù)信息時，將uid信息初入至查詢欄中進行查詢，可快捷得到與uid信息相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)表，從而提高了信息的查詢效率；2、在對異常告警信息進行解決方案確定時，對生成的第一測試結(jié)果信息進行分析，得到的nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的錯誤節(jié)點信息，然后獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息，將錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果，并判斷比對結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，即判斷比對結(jié)果是否為完全匹配，若比對結(jié)果滿足預(yù)設(shè)條件，則根據(jù)預(yù)設(shè)解決方案以及比對結(jié)果確定解決方案信息，從而便于工作人員對異常告警信息的處理。
附圖說明
30.圖1是本技術(shù)實施例一種nand閃存芯片的信息記錄方法的流程示意圖；圖2是本技術(shù)實施例一種nand閃存芯片的信息記錄方法的方框示意圖；圖3是本技術(shù)實施例電子設(shè)備的示意圖。
具體實施方式
31.以下結(jié)合附圖1-3對本技術(shù)作進一步詳細(xì)說明。
32.領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀完本說明書后可以根據(jù)需要對本實施例做出沒有創(chuàng)造性貢獻的修改，但只要在本技術(shù)的權(quán)利要求范圍內(nèi)都受到專利法的保護。
33.為使本技術(shù)實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本技術(shù)實施例中的附圖，對本技術(shù)實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本技術(shù)一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術(shù)中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術(shù)保護的范圍。
34.另外，本文中術(shù)語“和/或”，僅僅是一種描述關(guān)聯(lián)對象的關(guān)聯(lián)關(guān)系，表示可以存在三種關(guān)系，例如，a和/或b，可以表示：單獨存在a，同時存在a和b，單獨存在b這三種情況。另外，本文中字符“/”，如無特殊說明，一般表示前后關(guān)聯(lián)對象是一種“或”的關(guān)系。
35.下面結(jié)合說明書附圖對本技術(shù)實施例作進一步詳細(xì)描述。
36.本技術(shù)實施例提供了一種nand閃存芯片的信息記錄方法，由電子設(shè)備執(zhí)行，該電子設(shè)備可以為服務(wù)器也可以為終端設(shè)備，其中，該服務(wù)器可以是獨立的物理服務(wù)器，也可以是多個物理服務(wù)器構(gòu)成的服務(wù)器集或者分布式系統(tǒng)，還可以是提供云計算服務(wù)的云服務(wù)器。終端設(shè)備可以是智能手機、平板電腦、筆記本電腦、臺式計算機等，但并不局限于此，該終端設(shè)備以及服務(wù)器可以通過有線或無線通信方式進行直接或間接地連接，本技術(shù)實施例在此不做限制，如圖1所示，該方法包括：步驟s10，當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及uid信息。
37.其中，測試數(shù)據(jù)信息為nand閃存測試板的nand閃存芯片的rdt測試結(jié)果數(shù)據(jù)，uid信息為nand閃存芯片的標(biāo)識id。
38.具體地，nand閃存芯片是一種比硬盤驅(qū)動器更好的存儲設(shè)備。隨著人們持續(xù)追求功耗更低、重量更輕和性能更佳的產(chǎn)品，nand閃存芯片被證明極具吸引力。nand閃存芯片是一種非易失性存儲技術(shù)，即斷電后仍能保存數(shù)據(jù)。它的發(fā)展目標(biāo)就是降低每比特存儲成本、提高存儲容量。
39.具體地，nand閃存芯片結(jié)合了eprom的高密度和eeprom結(jié)構(gòu)的變通性的優(yōu)點。eprom是指其中的內(nèi)容可以通過特殊手段擦去，然后重新寫入。其基本單元電路如下圖所示。常采用浮空柵雪崩注入式mos電路，簡稱為famos。它與mos電路相似，是在n型基片上生長出兩個高濃度的p型區(qū)，通過歐姆接觸分別引出源極s和漏極d。在源極和漏極之間有一個多晶硅柵極浮空在 絕緣層中，與四周無直接電氣聯(lián)接。這種電路以浮空柵極是否帶電來表示存1或者0，浮空柵極帶電后（例如負(fù)電荷），就在其下面，源極和漏極之間感應(yīng)出正的導(dǎo)電溝道，使mos管導(dǎo)通，即表示存入0.若浮空柵極不帶電，則不能形成導(dǎo)電溝道，mos管不導(dǎo)通，即存入1。
40.具體地，將多個nand閃存芯片分別卡接在nand閃存測試板的卡槽內(nèi)，使得多個nand閃存芯片的電極分別與卡槽內(nèi)的電極相導(dǎo)通，然后使用rdt開卡軟件對nand閃存測試板進行rdt開卡操作，并將rdt開卡后的nand閃存測試板統(tǒng)一放到rdt測試架上通電進行rdt測試，rdt測試結(jié)束后，讀取nand閃存測試板的測試數(shù)據(jù)信息以及nand閃存芯片的uid信息。
41.步驟s11，對測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息。
42.具體地，通過rdt結(jié)果讀取軟件，讀取nand閃存測試板的測試數(shù)據(jù)分析，其中，測試結(jié)果顏為綠“pass”表示通過測試板通過rdt測試，測試結(jié)果顏為紅“fail”表示沒有通過rdt測試。
43.步驟s12，將測試結(jié)果信息與uid信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息。
44.具體地，通過使用mysql實現(xiàn)uid信息與測試結(jié)果信息的綁定，mysql是一種關(guān)系型數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng)，關(guān)系數(shù)據(jù)庫將數(shù)據(jù)保存在不同的表中，而不是將所有數(shù)據(jù)放在一個大倉庫內(nèi)，這樣就增加了速度并提高了靈活性。
45.步驟s13，對關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表。
46.本技術(shù)實施例提供了一種nand閃存芯片的信息記錄方法，在對nand閃存芯片進行信息記錄時，將nand閃存芯片放置在nand閃存測試板內(nèi)，然后對nand閃存測試板進行rdt測試，然后獲取測試后的測試數(shù)據(jù)信息以及nand閃存芯片的uid信息，將獲取到的測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，然后將測試結(jié)果信息以及uid信息
進行綁定，生成對應(yīng)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息，通過將關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，得到測試數(shù)據(jù)表，并將測試數(shù)據(jù)表進行保存，當(dāng)工作人員查詢測試數(shù)據(jù)信息時，將uid信息初入至查詢欄中進行查詢，可快捷得到與uid信息相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)表，從而提高了信息的查詢效率。
47.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，步驟s11具體包括步驟s111（圖中未示出）、步驟s112（圖中未示出）、步驟s113（圖中未示出）、步驟s114（圖中未示出）以及步驟s115（圖中未示出），其中，步驟s111，基于測試數(shù)據(jù)信息確定nand閃存測試后產(chǎn)生的壞塊數(shù)量信息。
48.具體地，測試數(shù)據(jù)信息包括nand閃存芯片總個數(shù)、nand閃存芯片的好塊數(shù)量以及nand閃存芯片的壞塊數(shù)量。
49.步驟s112，確定壞塊數(shù)量信息是否超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)。
50.在本技術(shù)實施例中，預(yù)設(shè)閾值參數(shù)為5，當(dāng)nand閃存芯片的壞塊數(shù)量為6個時，即表示當(dāng)前的nand閃存芯片的壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值。
51.步驟s113，若壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成異常告警信息，將異常告警信息與測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息。
52.具體地，當(dāng)壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)時，生成異常告警信息，例如：當(dāng)前壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，超過數(shù)值為1個。將異常告警信息與測試數(shù)據(jù)信息相綁定，生成第一測試結(jié)果信息。
53.步驟s114，若壞塊數(shù)量信息未超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成測試通過信息，并將測試通過信息與測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第二測試結(jié)果信息。
54.步驟s115，將第一測試結(jié)果信息與第二測試結(jié)果信息進行信息整理，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息。
55.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，步驟s113之后還包括步驟s131（圖中未示出）、步驟s132（圖中未示出）、步驟s133（圖中未示出）以及步驟s134（圖中未示出），其中，步驟s131，對第一測試結(jié)果信息進行分析，確定存在異常的錯誤節(jié)點信息。
56.具體地，第一測試結(jié)果信息中存在nand閃存芯片在進行rdt測試的時間過程，通過時間過程中所對應(yīng)的時間節(jié)點，確定存在異常的錯誤節(jié)點信息。
57.步驟s132，獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息。
58.具體地，預(yù)設(shè)解決方案為歷史所發(fā)生過異常的問題解決方案。
59.步驟s133，將錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果。
60.具體地，rdt測試的測試時間過程是一樣的，若錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息存在重合，即表示比對成功。
61.步驟s134，判斷對比結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，若滿足，則確定解決方案信息。
62.具體地，預(yù)設(shè)條件為錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息完全比對成功。
63.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，步驟s133具體包括步驟sa（圖中未示出）以及步驟sb（圖中未示出），其中，步驟sa，分別對錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行分割處理。
64.具體地，在本技術(shù)實施例中，電子設(shè)備通過控制層、業(yè)務(wù)層以及數(shù)據(jù)訪問層對錯誤節(jié)點信息數(shù)據(jù)庫與問題節(jié)點信息數(shù)據(jù)庫中存儲的錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行獲取，具體可以包括：在數(shù)據(jù)訪問層只負(fù)責(zé)錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息的數(shù)據(jù)交互，對數(shù)據(jù)進
行讀取操作，業(yè)務(wù)層需要根據(jù)系統(tǒng)的實際業(yè)務(wù)需求進行邏輯代碼的編寫，與錯誤節(jié)點信息數(shù)據(jù)庫與問題節(jié)點信息數(shù)據(jù)庫中存儲的錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行交互，業(yè)務(wù)邏輯層調(diào)用數(shù)據(jù)訪問層的相關(guān)方法實現(xiàn)與數(shù)據(jù)庫的交互，并將執(zhí)行結(jié)果反饋給控制層，控制層的職能是負(fù)責(zé)讀取錯誤節(jié)點信息數(shù)據(jù)庫與問題節(jié)點信息數(shù)據(jù)庫中存儲的錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息，并通過控制用戶的輸入，并調(diào)用業(yè)務(wù)層的方法，最后通過數(shù)據(jù)分隔符（dataspit）、數(shù)據(jù)列分隔符（colspit）以及數(shù)據(jù)行分隔符（rowspit）對獲取到的錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息字符串進行分隔。
65.例如：錯誤節(jié)點信息包括“s15,s16，s17”，通過數(shù)據(jù)分隔符（dataspit）分隔后變成“s15|s16|s17”，若問題節(jié)點信息包括“s15=a,s16=b,s17=c”，通過數(shù)據(jù)列分隔符（colspit）分隔后變成“s15=a|s16=b|s17=c”。
66.步驟sb，根據(jù)分割后的錯誤節(jié)點信息與分割后的問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對。
67.在本技術(shù)實施例中，通過正則表達(dá)式將錯誤節(jié)點信息與分割后的問題節(jié)點信息進行匹配，具體可以說，正則表達(dá)式是對字符串操作的一種邏輯公式，就是用事先定義好的一些特定字符、及這些特定字符的組合，組成一個“規(guī)則字符串”，這個“規(guī)則字符串”用來表達(dá)對字符串的一種過濾邏輯。
68.例如：^預(yù)加熱，這個模式包含一個特殊的字符^，表示該模式只匹配那些以預(yù)加熱開頭的字符串。例如該模式與字符串"預(yù)加熱酸奶溫度"匹配，與"預(yù)冷卻"不匹配；正如如^符號表示開頭一樣，$符號用來匹配那些以給定模式結(jié)尾的字符串，例如：溫度$，這個模式與字符串"冷卻溫度"匹配，與"酸奶的多種配料"不匹配。字符^和$同時使用時，表示精確匹配。
69.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，步驟sb（圖中未示出）之后還包括步驟sb1（圖中未示出）、步驟sb2（圖中未示出）以及步驟sb3（圖中未示出），其中，步驟sb1，分割后的搜書錯誤節(jié)點信息包括至少一個分割結(jié)果。
70.步驟sb2，若對比結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)條件，則將比對不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)注，并確定標(biāo)注處理的分割結(jié)果數(shù)量。
71.具體地，具體地，在對不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)注處理時，在本技術(shù)實施例中，標(biāo)注處理的格式并不限定，例如，可以標(biāo)紅處理或者下劃線標(biāo)注處理。
72.例如：將與錯誤節(jié)點信息匹配成功的問題節(jié)點信息進行標(biāo)注處理，具體可以說，獲取相匹配字段，并通過修改文本style中color，對敏感詞匯通過字體顏標(biāo)紅進行標(biāo)注處理，例如，
‘
《span style=“color:red”》{匹配字段}《/span》’。
73.步驟sb3，控制顯示分割結(jié)果數(shù)量。
74.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，步驟s13（圖中未示出）之后還包括步驟sc（圖中未示出），其中，步驟sc，獲取當(dāng)前時間信息，并將測試數(shù)據(jù)表與當(dāng)前時間信息綁定。
75.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，步驟s13之后還包括步驟s14（圖中未示出）以及步驟s15（圖中未示出），其中，步驟s14，獲取測試環(huán)境信息，測試環(huán)境信息為nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的環(huán)境信息。
76.步驟s15，根據(jù)環(huán)境信息確定溫濕度參數(shù)，并判斷溫濕度參數(shù)是否滿足于預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)
參數(shù)，若不滿足，則生成環(huán)境告警信息。
77.上述實施例從方法流程的角度介紹一種nand閃存芯片的信息記錄方法，下述實施例從虛擬模塊或者虛擬單元的角度介紹了一種nand閃存芯片的信息記錄裝置，具體詳見下述實施例。
78.本技術(shù)實施例提供一種nand閃存芯片的信息記錄裝置，如圖2所示，該裝置20具體可以包括：獲取模塊21、分析模塊22、綁定模塊23以及存儲模塊24，其中，獲取模塊21，用于當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及uid信息，測試數(shù)據(jù)信息為nand閃存測試板的nand閃存芯片的rdt測試結(jié)果數(shù)據(jù)，uid信息為nand閃存芯片的標(biāo)識id；分析模塊22，用于對測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息；綁定模塊23，用于將測試結(jié)果信息與uid信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息；存儲模塊24，用于對關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表。
79.本技術(shù)實施例的一種可能的實現(xiàn)方式，分析模塊22在對測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，具體用于：基于測試數(shù)據(jù)信息確定nand閃存測試后產(chǎn)生的壞塊數(shù)量信息；確定壞塊數(shù)量信息是否超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)；若壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成異常告警信息，將異常告警信息與測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息；若壞塊數(shù)量信息未超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成測試通過信息，并將測試通過信息與測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第二測試結(jié)果信息；將第一測試結(jié)果信息與第二測試結(jié)果信息進行信息整理，生成nand閃存測試板的測試結(jié)果信息。
80.本技術(shù)實施例的另一種可能的實現(xiàn)方式，裝置20還包括：節(jié)點確定模塊、節(jié)點獲取模塊、節(jié)點比對模塊以及方案確定模塊，其中，節(jié)點確定模塊，用于對第一測試結(jié)果信息進行分析，確定存在異常的錯誤節(jié)點信息；節(jié)點獲取模塊，用于獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息；節(jié)點比對模塊，用于將錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果；方案確定模塊，用于判斷對比結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，若滿足，則確定解決方案信息。
81.本技術(shù)實施例的另一種可能的實現(xiàn)方式，節(jié)點比對模塊在將錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行比對時，具體用于：分別對錯誤節(jié)點信息與問題節(jié)點信息進行分割處理；根據(jù)分割后的錯誤節(jié)點信息與分割后的問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對。
82.本技術(shù)實施例的另一種可能的實現(xiàn)方式，裝置20還包括：分割模塊、標(biāo)注模塊以及控制顯示模塊，其中，分割模塊，用于分割后的錯誤節(jié)點信息包括至少一個分割結(jié)果；標(biāo)注模塊，用于當(dāng)對比結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)條件時，將比對不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)
注，并確定標(biāo)注處理的分割結(jié)果數(shù)量；控制顯示模塊，用于控制顯示分割結(jié)果數(shù)量。
83.本技術(shù)實施例的另一種可能的實現(xiàn)方式，裝置20還包括：時間綁定模塊，其中，時間綁定模塊，用于獲取當(dāng)前時間信息，并將測試數(shù)據(jù)表與當(dāng)前時間信息綁定。
84.本技術(shù)實施例的另一種可能的實現(xiàn)方式，裝置20還包括：環(huán)境獲取模塊以及環(huán)境判斷模塊，其中，環(huán)境獲取模塊，用于獲取測試環(huán)境信息，測試環(huán)境信息為nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的環(huán)境信息；環(huán)境判斷模塊，用于根據(jù)環(huán)境信息確定溫濕度參數(shù)，并判斷溫濕度參數(shù)是否滿足于預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，若不滿足，則生成環(huán)境告警信息。
85.所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統(tǒng)、裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。
86.本技術(shù)實施例還從實體裝置的角度介紹了一種電子設(shè)備，如圖3所示，圖3所示的電子設(shè)備300包括：處理器301和存儲器303。其中，處理器301和存儲器303相連，如通過總線302相連。可選地，電子設(shè)備300還可以包括收發(fā)器304。需要說明的是，實際應(yīng)用中收發(fā)器304不限于一個，該電子設(shè)備300的結(jié)構(gòu)并不構(gòu)成對本技術(shù)實施例的限定。
87.處理器301可以是cpu（central processing unit，中央處理器），通用處理器，dsp（digital signal processor，數(shù)據(jù)信號處理器），asic（application specific integrated circuit，專用集成電路），fpga（field programmable gate array，現(xiàn)場可編程門陣列）或者其他可編程邏輯器件、晶體管邏輯器件、硬件部件或者其任意組合。其可以實現(xiàn)或執(zhí)行結(jié)合本技術(shù)公開內(nèi)容所描述的各種示例性的邏輯方框，模塊和電路。處理器301也可以是實現(xiàn)計算功能的組合，例如包含一個或多個微處理器組合，dsp和微處理器的組合等。
88.總線302可包括一通路，在上述組件之間傳送信息。總線302可以是pci（peripheral component interconnect，外設(shè)部件互連標(biāo)準(zhǔn)）總線或eisa（extended industry standard architecture，擴展工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)）總線等。總線302可以分為地址總線、數(shù)據(jù)總線、控制總線等。為便于表示，圖3中僅用一條粗線表示，但并不表示僅有一根總線或一種類型的總線。
89.存儲器303可以是rom（read only memory，只讀存儲器）或可存儲靜態(tài)信息和指令的其他類型的靜態(tài)存儲設(shè)備，ram（random access memory，隨機存取存儲器）或者可存儲信息和指令的其他類型的動態(tài)存儲設(shè)備，也可以是eeprom（electrically erasable programmable read only memory，電可擦可編程只讀存儲器）、cd-rom（compact disc read only memory，只讀光盤）或其他光盤存儲、光碟存儲（包括壓縮光碟、激光碟、光碟、數(shù)字通用光碟、藍(lán)光光碟等）、磁盤存儲介質(zhì)或者其他磁存儲設(shè)備、或者能夠用于攜帶或存儲具有指令或數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)形式的期望的程序代碼并能夠由計算機存取的任何其他介質(zhì)，但不限于此。
90.存儲器303用于存儲執(zhí)行本技術(shù)方案的應(yīng)用程序代碼，并由處理器301來控制執(zhí)行。處理器301用于執(zhí)行存儲器303中存儲的應(yīng)用程序代碼，以實現(xiàn)前述方法實施例所示的內(nèi)容。
91.其中，電子設(shè)備包括但不限于：移動電話、筆記本電腦、數(shù)字廣播接收器、pda（個人數(shù)字助理）、pad（平板電腦）、pmp（便攜式多媒體播放器）、車載終端（例如車載導(dǎo)航終端）等等的移動終端以及諸如數(shù)字tv、臺式計算機等等的固定終端。還可以為服務(wù)器等。圖3示出的電子設(shè)備僅僅是一個示例，不應(yīng)對本技術(shù)實施例的功能和使用范圍帶來任何限制。
92.應(yīng)該理解的是，雖然附圖的流程圖中的各個步驟按照箭頭的指示依次顯示，但是這些步驟并不是必然按照箭頭指示的順序依次執(zhí)行。除非本文中有明確的說明，這些步驟的執(zhí)行并沒有嚴(yán)格的順序限制，其可以以其他的順序執(zhí)行。而且，附圖的流程圖中的至少一部分步驟可以包括多個子步驟或者多個階段，這些子步驟或者階段并不必然是在同一時刻執(zhí)行完成，而是可以在不同的時刻執(zhí)行，其執(zhí)行順序也不必然是依次進行，而是可以與其他步驟或者其他步驟的子步驟或者階段的至少一部分輪流或者交替地執(zhí)行。
93.以上僅是本技術(shù)的部分實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本技術(shù)的保護范圍。
技術(shù)特征：
1.一種nand閃存芯片的信息記錄方法，其特征在于，包括當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及uid信息，所述測試數(shù)據(jù)信息為nand閃存測試板的nand閃存芯片的rdt測試結(jié)果數(shù)據(jù)，所述uid信息為所述nand閃存芯片的標(biāo)識id；對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息；將所述測試結(jié)果信息與所述uid信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息；對所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息，包括：基于所述測試數(shù)據(jù)信息確定所述nand閃存測試后產(chǎn)生的壞塊數(shù)量信息；確定所述壞塊數(shù)量信息是否超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)；若所述壞塊數(shù)量信息超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成異常告警信息，將所述異常告警信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息；若所述壞塊數(shù)量信息未超過預(yù)設(shè)閾值參數(shù)，則生成測試通過信息，并將所述測試通過信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第二測試結(jié)果信息；將所述第一測試結(jié)果信息與所述第二測試結(jié)果信息進行信息整理，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述異常告警信息與所述測試數(shù)據(jù)信息進行綁定，生成第一測試結(jié)果信息，之后還包括：對所述第一測試結(jié)果信息進行分析，確定存在異常的錯誤節(jié)點信息；獲取預(yù)設(shè)解決方案中的問題節(jié)點信息；將所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行比對，得到比對結(jié)果；判斷所述對比結(jié)果是否滿足預(yù)設(shè)條件，若滿足，則確定解決方案信息。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述將所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行比對，包括：分別對所述錯誤節(jié)點信息與所述問題節(jié)點信息進行分割處理；根據(jù)分割后的所述錯誤節(jié)點信息與分割后的所述問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)分割后的所述錯誤節(jié)點信息與分割后的所述問題節(jié)點信息進行對應(yīng)比對，之后還包括：分割后的所述錯誤節(jié)點信息包括至少一個分割結(jié)果；若所述對比結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)條件，則將比對不匹配的分割結(jié)果進行標(biāo)注，并確定標(biāo)注處理的分割結(jié)果數(shù)量；控制顯示所述分割結(jié)果數(shù)量。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表，之后還包括：獲取當(dāng)前時間信息，并將所述測試數(shù)據(jù)表與所述當(dāng)前時間信息綁定。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：獲取測試環(huán)境信息，所述測試環(huán)境信息為所述nand閃存測試板在進行rdt測試過程中的環(huán)境信息；根據(jù)所述環(huán)境信息確定溫濕度參數(shù)，并判斷所述溫濕度參數(shù)是否滿足于預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)參
數(shù)，若不滿足，則生成環(huán)境告警信息。8.一種nand閃存芯片的信息記錄裝置，其特征在于，包括：獲取模塊，用于當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及uid信息，所述測試數(shù)據(jù)信息為nand閃存測試板的nand閃存芯片的rdt測試結(jié)果數(shù)據(jù)，所述uid信息為所述nand閃存芯片的標(biāo)識id；分析模塊，用于對所述測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成所述nand閃存測試板的測試結(jié)果信息；綁定模塊，用于將所述測試結(jié)果信息與所述uid信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息；存儲模塊，用于對所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表。9.一種電子設(shè)備，其特征在于，該電子設(shè)備包括：至少一個處理器；存儲器；至少一個應(yīng)用程序，其中至少一個應(yīng)用程序被存儲在存儲器中并被配置為由至少一個處理器執(zhí)行，所述至少一個應(yīng)用程序配置用于：執(zhí)行權(quán)利要求1～7任一項所述的nand閃存芯片的信息記錄方法。10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，當(dāng)所述計算機程序在計算機中執(zhí)行時，令所述計算機執(zhí)行權(quán)利要求1～7任一項所述的nand閃存芯片的信息記錄方法。
技術(shù)總結(jié)
本申請涉及信息處理的領(lǐng)域，尤其是涉及一種AD閃存芯片的信息記錄方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)。其方法包括：當(dāng)檢測到測試指令后，獲取測試數(shù)據(jù)信息以及UID信息，測試數(shù)據(jù)信息為AD閃存測試板的AD閃存芯片的RDT測試結(jié)果數(shù)據(jù)，UID信息為AD閃存芯片的標(biāo)識ID，然后對測試數(shù)據(jù)信息進行邏輯分析，生成AD閃存測試板的測試結(jié)果信息，然后將測試結(jié)果信息與UID信息進行綁定，生成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息，然后對關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)整理，生成并保存測試數(shù)據(jù)表，本申請具有提高信息的查詢效率的效果。本申請具有提高信息的查詢效率的效果。本申請具有提高信息的查詢效率的效果。
