一種存儲(chǔ)器固件檢修方法及系統(tǒng)與流程
1.本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域，尤其涉及一種存儲(chǔ)器固件檢修方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
2.存儲(chǔ)器是現(xiàn)代信息技術(shù)中用于保存信息的記憶設(shè)備。其概念很廣，有很多層次，在數(shù)字系統(tǒng)中，只要能保存二進(jìn)制數(shù)據(jù)的都可以是存儲(chǔ)器；在集成電路中，一個(gè)沒有實(shí)物形式的具有存儲(chǔ)功能的電路也叫存儲(chǔ)器，如ram、fifo等；在系統(tǒng)中，具有實(shí)物形式的存儲(chǔ)設(shè)備也叫存儲(chǔ)器，如內(nèi)存條、tf卡等。計(jì)算機(jī)中全部信息，包括輸入的原始數(shù)據(jù)、計(jì)算機(jī)程序、中間運(yùn)行結(jié)果和最終運(yùn)行結(jié)果都保存在存儲(chǔ)器中。
3.固件是指設(shè)備內(nèi)部保存的設(shè)備“驅(qū)動(dòng)程序”，通過固件，操作系統(tǒng)才能按照標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)特定機(jī)器的運(yùn)行動(dòng)作。通常，基于閃存的固態(tài)硬盤，采用flash芯片作為存儲(chǔ)介質(zhì)，這也是通常所說的ssd。它的外觀可以被制作成多種模樣，例如：筆記本硬盤、微硬盤、存儲(chǔ)卡、u盤等樣式。這種ssd固態(tài)硬盤最大的優(yōu)點(diǎn)就是可以移動(dòng)，而且數(shù)據(jù)保護(hù)不受電源控制，能適應(yīng)于各種環(huán)境，適合于個(gè)人用戶使用。
4.然而，現(xiàn)有技術(shù)中存在利用固態(tài)硬盤的存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行流通調(diào)取過程中，無法對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大降低的技術(shù)問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
5.本發(fā)明的目的是提供一種存儲(chǔ)器固件檢修方法及系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中利用固態(tài)硬盤的存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行流通調(diào)取過程中，無法對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大降低的技術(shù)問題。
6.鑒于上述問題，本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法及系統(tǒng)。
7.第一方面，本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，所述方法包括：對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。
8.另一方面，本發(fā)明還提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)，用于執(zhí)行如第一方面所述的一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，其中，所述系統(tǒng)包括：第一提取單元，所述第一提取單元用于對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；第一確定單元，所述第一確定單元用于根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；第一標(biāo)記單元，所述第一標(biāo)記單元用于對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)
以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；第一掃描單元，所述第一掃描單元用于通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；第一過濾單元，所述第一過濾單元用于對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；第二提取單元，所述第二提取單元用于對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。
9.第三方面，一種電子設(shè)備，其中，包括處理器和存儲(chǔ)器；該存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)；該處理器，用于通過調(diào)用，執(zhí)行上述第一方面中任一項(xiàng)所述的方法。
10.第四方面，一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序和/或指令，該計(jì)算機(jī)程序和/或指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述第一方面中任一項(xiàng)所述方法的步驟。
11.本發(fā)明中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：通過對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前數(shù)據(jù)進(jìn)行提取，可獲得存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)數(shù)據(jù)，基于此，對(duì)關(guān)鍵扇區(qū)的數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選并標(biāo)記，可獲得較為高級(jí)的檢修參數(shù)，進(jìn)而通過該檢修參數(shù)，對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前芯片通道覆蓋的服務(wù)區(qū)進(jìn)行掃描，進(jìn)而對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)介質(zhì)的特定程序的過濾，通過對(duì)過濾得到的程序運(yùn)行數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼提取，可對(duì)提取到的標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)和實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，從而確定實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)的缺陷位置，進(jìn)而進(jìn)行及時(shí)檢修，達(dá)到了對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大提升的技術(shù)效果。
12.上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉本發(fā)明的具體實(shí)施方式。
附圖說明
13.為了更清楚地說明本發(fā)明或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是示例性的，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
14.圖1為本發(fā)明一種存儲(chǔ)器固件檢修方法的流程示意圖；圖2為本發(fā)明一種存儲(chǔ)器固件檢修方法中獲得提取譯碼數(shù)據(jù)的流程示意圖；圖3為本發(fā)明一種存儲(chǔ)器固件檢修方法中搭建數(shù)據(jù)遍歷篩選模型的流程示意圖；圖4為本發(fā)明一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明示例性電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
15.附圖標(biāo)記說明：第一提取單元11，第一確定單元12，第一標(biāo)記單元13，第一掃描單元14，第一過濾單元15，第二提取單元16，總線300，接收器301，處理器302，發(fā)送器303，存儲(chǔ)器304，總線接口305。
具體實(shí)施方式
16.本發(fā)明通過提供一種存儲(chǔ)器固件檢修方法及系統(tǒng)，解決現(xiàn)有技術(shù)中利用固態(tài)硬盤的存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行流通調(diào)取過程中，無法對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大降低的技術(shù)問題。
17.本發(fā)明技術(shù)方案中對(duì)數(shù)據(jù)的獲取、存儲(chǔ)、使用、處理等均符合國家法律法規(guī)的相關(guān)規(guī)定。
18.下面，將參考附圖對(duì)本發(fā)明中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例，而不是本發(fā)明的全部實(shí)施例，應(yīng)理解，本發(fā)明不受這里描述的示例實(shí)施例的限制。基于本發(fā)明的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部。
19.本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，所述方法包括：通過對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前數(shù)據(jù)進(jìn)行提取，可獲得存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)數(shù)據(jù)，基于此，對(duì)關(guān)鍵扇區(qū)的數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選并標(biāo)記，可獲得較為高級(jí)的檢修參數(shù)，進(jìn)而通過該檢修參數(shù)，對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前芯片通道覆蓋的服務(wù)區(qū)進(jìn)行掃描，進(jìn)而對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)介質(zhì)的特定程序的過濾，通過對(duì)過濾得到的程序運(yùn)行數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼提取，可對(duì)提取到的標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)和實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，從而確定實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)的缺陷位置，進(jìn)而進(jìn)行及時(shí)檢修，達(dá)到了對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大提升的技術(shù)效果。
20.在介紹了本發(fā)明基本原理后，下面將結(jié)合說明書附圖來具體介紹本發(fā)明的各種非限制性的實(shí)施方式。
21.實(shí)施例一請(qǐng)參閱附圖1，本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，所述方法具體包括如下步驟：步驟s100：對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；進(jìn)一步的，步驟s100包括：步驟s110：對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行遍歷，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合；步驟s120：獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的目標(biāo)適用場景；步驟s130：基于所述目標(biāo)適用場景，搭建數(shù)據(jù)遍歷篩選模型；步驟s140：將所述系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合輸入至所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行訓(xùn)練，獲得所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息。
22.具體而言，存儲(chǔ)器是現(xiàn)代信息技術(shù)中用于保存信息的記憶設(shè)備。其概念很廣，有很多層次，在數(shù)字系統(tǒng)中，只要能保存二進(jìn)制數(shù)據(jù)的都可以是存儲(chǔ)器；在集成電路中，一個(gè)沒有實(shí)物形式的具有存儲(chǔ)功能的電路也叫存儲(chǔ)器，如ram、fifo等；在系統(tǒng)中，具有實(shí)物形式的存儲(chǔ)設(shè)備也叫存儲(chǔ)器，如內(nèi)存條、tf卡等。計(jì)算機(jī)中全部信息，包括輸入的原始數(shù)據(jù)、計(jì)算機(jī)程序、中間運(yùn)行結(jié)果和最終運(yùn)行結(jié)果都保存在存儲(chǔ)器中。
23.固件是指設(shè)備內(nèi)部保存的設(shè)備“驅(qū)動(dòng)程序”，通過固件，操作系統(tǒng)才能按照標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)特定機(jī)器的運(yùn)行動(dòng)作。通常，基于閃存的固態(tài)硬盤，采用flash芯片作為存儲(chǔ)
介質(zhì)，這也是通常所說的ssd。它的外觀可以被制作成多種模樣，例如：筆記本硬盤、微硬盤、存儲(chǔ)卡、u盤等樣式。這種ssd固態(tài)硬盤最大的優(yōu)點(diǎn)就是可以移動(dòng)，而且數(shù)據(jù)保護(hù)不受電源控制，能適應(yīng)于各種環(huán)境，適合于個(gè)人用戶使用。
24.然而，由于現(xiàn)有技術(shù)中，在利用固態(tài)硬盤的存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行流通調(diào)取過程中，無法對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大降低的技術(shù)問題。
25.為了解決此類問題，本技術(shù)提出了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，通過對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前數(shù)據(jù)進(jìn)行提取，可獲得存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)數(shù)據(jù)，基于此，對(duì)關(guān)鍵扇區(qū)的數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選并標(biāo)記，可獲得較為高級(jí)的檢修參數(shù)，進(jìn)而通過該檢修參數(shù)，對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前芯片通道覆蓋的服務(wù)區(qū)進(jìn)行掃描，進(jìn)而對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)介質(zhì)的特定程序的過濾，通過對(duì)過濾得到的程序運(yùn)行數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼提取，可對(duì)提取到的標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)和實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，從而確定實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)的缺陷位置，進(jìn)而進(jìn)行及時(shí)檢修，達(dá)到了對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大提升的技術(shù)效果。
26.具體的，所述待檢修存儲(chǔ)器為一具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、調(diào)用等功能的存儲(chǔ)設(shè)備，包括筆記本硬盤、微硬盤、存儲(chǔ)卡以及u盤等設(shè)備，所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息即為該設(shè)備正常工作時(shí)的數(shù)據(jù)流通信息，包括通道大小、數(shù)據(jù)響應(yīng)速率等。其中，在對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取時(shí)，具體的，可對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行遍歷，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合，其中，所述系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合即為該存儲(chǔ)器的固態(tài)硬盤系統(tǒng)和芯片信息。同時(shí)，所述目標(biāo)適用場景即為該存儲(chǔ)設(shè)備可用于的計(jì)算設(shè)備，示例性的，若該存儲(chǔ)設(shè)備為筆記本電腦的硬盤，則存儲(chǔ)的大多為對(duì)內(nèi)的系統(tǒng)運(yùn)行驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)以及對(duì)外的應(yīng)用運(yùn)行數(shù)據(jù)等，進(jìn)而，可基于所述目標(biāo)適用場景，搭建數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，一般的，存儲(chǔ)設(shè)備的應(yīng)用設(shè)備不同，使得數(shù)據(jù)流通的側(cè)重點(diǎn)有所不同，所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型可對(duì)不同應(yīng)用場景的流通數(shù)據(jù)進(jìn)行差異性篩選，使得對(duì)目標(biāo)設(shè)備對(duì)應(yīng)的芯片通道覆蓋的扇區(qū)進(jìn)行精準(zhǔn)鎖定和有效篩選，通過將所述系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合輸入至所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行訓(xùn)練，可獲得所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，本技術(shù)中，以存儲(chǔ)設(shè)備為筆記本電腦的硬盤為例進(jìn)行說明，則所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息即包括硬盤系統(tǒng)上的芯片數(shù)據(jù)，包括芯片個(gè)數(shù)、通道個(gè)數(shù)、通道塊數(shù)、塊大小以及葉大小等參數(shù)覆蓋的數(shù)據(jù)。
27.步驟s200：根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；步驟s300：對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；具體而言，在獲得所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息之后，需對(duì)其進(jìn)行關(guān)鍵特征檢修數(shù)據(jù)的篩選，其中，所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)即為篩選得到的關(guān)鍵特征檢修數(shù)據(jù)，所述第一檢修參數(shù)可理解為芯片個(gè)數(shù)，所述第二檢修參數(shù)可理解為通道個(gè)數(shù)，所述第三檢修參數(shù)可理解為頁大小，進(jìn)而對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，即將所述第一檢修參數(shù)標(biāo)記為表征芯片個(gè)數(shù)的標(biāo)簽，將所述第二檢修參數(shù)標(biāo)記為表征通道個(gè)數(shù)的標(biāo)簽，將所述第三檢修參數(shù)標(biāo)記為表征頁大小的標(biāo)簽，進(jìn)而對(duì)上述三種標(biāo)記標(biāo)簽進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，使得上述三種標(biāo)記標(biāo)簽融合為一個(gè)較為高級(jí)的檢修參數(shù)，可通過特征融合的方式實(shí)現(xiàn)，所述高級(jí)檢修參數(shù)即覆蓋了上述三張標(biāo)記標(biāo)簽。
28.步驟s400：通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；步驟s500：對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；具體而言，在獲得所述高級(jí)檢修參數(shù)之后，可基于此，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，即對(duì)該存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)流通的服務(wù)區(qū)進(jìn)行掃描，可獲得掃描數(shù)據(jù)集合，所述掃描數(shù)據(jù)集合即為芯片個(gè)數(shù)覆蓋的數(shù)據(jù)、通道個(gè)數(shù)覆蓋的數(shù)據(jù)以及頁大小覆蓋的數(shù)據(jù)集合。
29.進(jìn)而，可對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)，即對(duì)芯片個(gè)數(shù)覆蓋的數(shù)據(jù)、通道個(gè)數(shù)覆蓋的數(shù)據(jù)以及頁大小覆蓋的數(shù)據(jù)集合，進(jìn)行重要的固件信息的過濾，一般的，固化在硬件上的軟件發(fā)生了損壞，包括有壞塊、讀錯(cuò)誤、模塊丟失、邏輯壞道和校驗(yàn)出錯(cuò)等，對(duì)應(yīng)的修復(fù)方法包括固件修復(fù)、芯片數(shù)據(jù)重組、接口轉(zhuǎn)換、物理替換的等方法。針對(duì)不同的情況，使用不同的技術(shù)方案。因此，所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)即為發(fā)生損壞的軟件數(shù)據(jù)，包括壞塊數(shù)據(jù)、讀錯(cuò)誤數(shù)據(jù)、模塊丟失數(shù)據(jù)、邏輯壞道數(shù)據(jù)以及校驗(yàn)出錯(cuò)數(shù)據(jù)等。
30.步驟s600：對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。
31.進(jìn)一步的，如圖2所示，步驟s600包括：步驟s610：調(diào)用所述待檢修存儲(chǔ)器的第一初始化指令，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行初始化；步驟s620：將所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)的扇區(qū)數(shù)據(jù)地址傳輸至所述待檢修存儲(chǔ)器，基于內(nèi)嵌的譯碼表，對(duì)所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址進(jìn)行譯碼，獲得所述提取譯碼數(shù)據(jù)；步驟s630：獲得所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址的預(yù)設(shè)字節(jié)信息；步驟s640：獲得所述提取譯碼數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換字節(jié)信息；步驟s650：判斷所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息是否保持一致；步驟s660：若所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息保持一致，生成第一提取指令，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。
32.具體而言，在獲得所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)之后，需要對(duì)其進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，具體的，可首先調(diào)用所述待檢修存儲(chǔ)器的第一初始化指令，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行初始化，即對(duì)該存儲(chǔ)設(shè)備的流通數(shù)據(jù)進(jìn)行初始化處理，等到初始化成功之后，可將所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)的扇區(qū)數(shù)據(jù)地址傳輸至所述待檢修存儲(chǔ)器，即將發(fā)生損壞的軟件數(shù)據(jù)覆蓋的扇區(qū)數(shù)據(jù)地址上傳至該存儲(chǔ)設(shè)備，通過該存儲(chǔ)設(shè)備內(nèi)嵌的譯碼表進(jìn)行數(shù)據(jù)譯碼，即對(duì)所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址進(jìn)行譯碼，所述提取譯碼數(shù)據(jù)即為譯碼得到的結(jié)果。
33.進(jìn)而，為了對(duì)譯碼得到的結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證，可對(duì)譯碼前后的字節(jié)信息進(jìn)行比對(duì)校正，具體的，可獲得所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址的預(yù)設(shè)字節(jié)信息，所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址可理解為發(fā)生程序損壞的數(shù)據(jù)地址，所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息可理解為發(fā)生程序損壞的數(shù)據(jù)地址的前四個(gè)字節(jié)，所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息即為譯碼得到的結(jié)果中的發(fā)生損壞的數(shù)據(jù)覆蓋地址的前四個(gè)字節(jié)，通過判斷所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息是否保持一致，換言之，初始化成功后將需要讀取的扇區(qū)數(shù)據(jù)的地址通過指令傳輸?shù)接脖P中，硬盤的內(nèi)部通過譯碼表進(jìn)行轉(zhuǎn)換，然后使用指令讀取硬盤的響應(yīng)數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)中保存這轉(zhuǎn)換成功的標(biāo)志，如果返回的數(shù)據(jù)前四個(gè)字節(jié)為前面?zhèn)鬏數(shù)接脖P中的地址，則轉(zhuǎn)換成功，否則轉(zhuǎn)換失敗，如果兩者保持一致，可生成第一
提取指令，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取，一般的，鏡像是一種文件存儲(chǔ)形式，是冗余的一種類型，一個(gè)磁盤上的數(shù)據(jù)在另一個(gè)磁盤上存在一個(gè)完全相同的副本即為鏡像。可以把許多文件做成一個(gè)鏡像文件，與ghost等程序放在一個(gè)盤里用ghost等軟件打開后，又恢復(fù)成許多文件，raid 1和raid 10使用的就是鏡像。常見的鏡像文件格式有iso、bin、img、tao、dao、cif、fcd。即通過對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取，可對(duì)照另一個(gè)磁盤上的完全相同的副本，對(duì)發(fā)生程序損壞的數(shù)據(jù)進(jìn)行提取。
34.進(jìn)一步的，如圖3所示，步驟s130包括：步驟s131：根據(jù)所述目標(biāo)適用場景，確定所述待檢修存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值、數(shù)據(jù)調(diào)取閾值以及數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率；步驟s132：將所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值標(biāo)記為第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)調(diào)取閾值標(biāo)記為第二關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率標(biāo)記為第三關(guān)聯(lián)參數(shù)；步驟s133：對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的歷史流通數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲得歷史流通數(shù)據(jù)集合；步驟s134：將所述歷史流通數(shù)據(jù)集合作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，所述第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述第二關(guān)聯(lián)參數(shù)以及所述第三關(guān)聯(lián)參數(shù)作為對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照訓(xùn)練，搭建所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型。
35.其中，步驟s134包括：步驟s1341：對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行自定義拆分，獲得數(shù)據(jù)訓(xùn)練集和數(shù)據(jù)驗(yàn)證集；步驟s1342：基于所述對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述數(shù)據(jù)訓(xùn)練集進(jìn)行訓(xùn)練，生成初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型；步驟s1343：將所述數(shù)據(jù)驗(yàn)證集輸入至所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，進(jìn)行數(shù)據(jù)驗(yàn)證訓(xùn)練，生成第一驗(yàn)證結(jié)果；步驟s1344：根據(jù)所述第一驗(yàn)證結(jié)果，對(duì)所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行優(yōu)化，生成所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型。
36.具體而言，在搭建所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型時(shí)，具體的，可根據(jù)所述目標(biāo)適用場景，確定所述待檢修存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值、數(shù)據(jù)調(diào)取閾值以及數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率，其中，當(dāng)所述目標(biāo)使用場景應(yīng)用于筆記本電腦的硬盤存儲(chǔ)時(shí)，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值即為該硬盤上最大容量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)空間大小，所述數(shù)據(jù)調(diào)取閾值即該硬盤上最大調(diào)用次數(shù)閾值，所述數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率即為對(duì)該硬盤上的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)用時(shí)的響應(yīng)速率，進(jìn)而，可將所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值標(biāo)記為第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)調(diào)取閾值標(biāo)記為第二關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率標(biāo)記為第三關(guān)聯(lián)參數(shù)。
37.同時(shí)，還可對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的歷史流通數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲得歷史流通數(shù)據(jù)集合，所述歷史流通數(shù)據(jù)集合即為該筆記本硬盤上的歷史流通數(shù)據(jù)集合，進(jìn)而，可將所述歷史流通數(shù)據(jù)集合作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，所述第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述第二關(guān)聯(lián)參數(shù)以及所述第三關(guān)聯(lián)參數(shù)作為對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照訓(xùn)練。
38.在訓(xùn)練過程中，為了訓(xùn)練出較為精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，可對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行自定義拆分，獲得數(shù)據(jù)訓(xùn)練集和數(shù)據(jù)驗(yàn)證集，其中，自定義拆分可理解為，根據(jù)實(shí)際數(shù)據(jù)需要，對(duì)訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行自定義劃分，將其中一部分作為數(shù)據(jù)訓(xùn)練集，用于訓(xùn)練數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，將剩下一部分作為數(shù)據(jù)驗(yàn)證集，用于對(duì)訓(xùn)練好的模型進(jìn)行驗(yàn)證。具體的，在自定義拆
分結(jié)束之后，可基于所述對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述數(shù)據(jù)訓(xùn)練集進(jìn)行訓(xùn)練，生成初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型為初次進(jìn)行模型訓(xùn)練得到的產(chǎn)物，進(jìn)而，可將所述數(shù)據(jù)驗(yàn)證集輸入至所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，進(jìn)行數(shù)據(jù)驗(yàn)證訓(xùn)練，生成第一驗(yàn)證結(jié)果，所述第一驗(yàn)證結(jié)果表征了模型訓(xùn)練結(jié)果和實(shí)際產(chǎn)生結(jié)果的驗(yàn)證情況，若二者不相吻合，可對(duì)所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行優(yōu)化，生成所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型即為最終訓(xùn)練得到的模型，可基于此，對(duì)系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合進(jìn)行篩選。
39.進(jìn)一步的，步驟s660包括：步驟s661：對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)；步驟s662：基于所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，獲得第一檢測差異結(jié)果；步驟s663：根據(jù)所述第一檢測差異結(jié)果，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行對(duì)應(yīng)檢修。
40.具體而言，在對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取之后，可獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)，所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)即為損壞數(shù)據(jù)發(fā)生之前的標(biāo)準(zhǔn)的鏡像文件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，通過所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，獲得第一檢測差異結(jié)果，即根據(jù)扇區(qū)數(shù)據(jù)地址的字節(jié)信息，對(duì)比所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)，對(duì)該存儲(chǔ)設(shè)備的實(shí)際固件數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照，可獲得兩者表現(xiàn)出來的數(shù)據(jù)差異，即為所述第一檢測差異結(jié)果，可基于此，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行對(duì)應(yīng)檢修，實(shí)現(xiàn)了對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修。
41.綜上所述，本發(fā)明所提供的一種存儲(chǔ)器固件檢修方法具有如下技術(shù)效果：通過對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前數(shù)據(jù)進(jìn)行提取，可獲得存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)數(shù)據(jù)，基于此，對(duì)關(guān)鍵扇區(qū)的數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選并標(biāo)記，可獲得較為高級(jí)的檢修參數(shù)，進(jìn)而通過該檢修參數(shù)，對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前芯片通道覆蓋的服務(wù)區(qū)進(jìn)行掃描，進(jìn)而對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)介質(zhì)的特定程序的過濾，通過對(duì)過濾得到的程序運(yùn)行數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼提取，可對(duì)提取到的標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)和實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，從而確定實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)的缺陷位置，進(jìn)而進(jìn)行及時(shí)檢修，達(dá)到了對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大提升的技術(shù)效果。
42.實(shí)施例二基于與前述實(shí)施例中一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，同樣發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)，請(qǐng)參閱附圖4，所述系統(tǒng)包括：第一提取單元11，所述第一提取單元11用于對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；第一確定單元12，所述第一確定單元12用于根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；第一標(biāo)記單元13，所述第一標(biāo)記單元13用于對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；第一掃描單元14，所述第一掃描單元14用于通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；
第一過濾單元15，所述第一過濾單元15用于對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；第二提取單元16，所述第二提取單元16用于對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。
43.進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括：第一獲得單元，所述第一獲得單元用于對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行遍歷，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合；第二獲得單元，所述第二獲得單元用于獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的目標(biāo)適用場景；第一搭建單元，所述第一搭建單元用于基于所述目標(biāo)適用場景，搭建數(shù)據(jù)遍歷篩選模型；第一輸入單元，所述第一輸入單元用于將所述系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合輸入至所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行訓(xùn)練，獲得所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息。
44.進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括：第二確定單元，所述第二確定單元用于根據(jù)所述目標(biāo)適用場景，確定所述待檢修存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值、數(shù)據(jù)調(diào)取閾值以及數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率；第二標(biāo)記單元，所述第二標(biāo)記單元用于將所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值標(biāo)記為第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)調(diào)取閾值標(biāo)記為第二關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率標(biāo)記為第三關(guān)聯(lián)參數(shù)；第一采集單元，所述第一采集單元用于對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的歷史流通數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲得歷史流通數(shù)據(jù)集合；第一訓(xùn)練單元，所述第一訓(xùn)練單元用于將所述歷史流通數(shù)據(jù)集合作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，所述第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述第二關(guān)聯(lián)參數(shù)以及所述第三關(guān)聯(lián)參數(shù)作為對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照訓(xùn)練，搭建所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型。
45.進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括：第一拆分單元，所述第一拆分單元用于對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行自定義拆分，獲得數(shù)據(jù)訓(xùn)練集和數(shù)據(jù)驗(yàn)證集；第二訓(xùn)練單元，所述第二訓(xùn)練單元用于基于所述對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述數(shù)據(jù)訓(xùn)練集進(jìn)行訓(xùn)練，生成初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型；第二輸入單元，所述第二輸入單元用于將所述數(shù)據(jù)驗(yàn)證集輸入至所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，進(jìn)行數(shù)據(jù)驗(yàn)證訓(xùn)練，生成第一驗(yàn)證結(jié)果；第一優(yōu)化單元，所述第一優(yōu)化單元用于根據(jù)所述第一驗(yàn)證結(jié)果，對(duì)所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行優(yōu)化，生成所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型。
46.進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括：第一調(diào)用單元，所述第一調(diào)用單元用于調(diào)用所述待檢修存儲(chǔ)器的第一初始化指令，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行初始化；第一傳輸單元，所述第一傳輸單元用于將所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)的扇區(qū)數(shù)據(jù)地址傳輸至所述待檢修存儲(chǔ)器，基于內(nèi)嵌的譯碼表，對(duì)所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址進(jìn)行譯碼，獲得所述提取譯碼數(shù)據(jù)。
47.進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括：
第三獲得單元，所述第三獲得單元用于獲得所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址的預(yù)設(shè)字節(jié)信息；第四獲得單元，所述第四獲得單元用于獲得所述提取譯碼數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換字節(jié)信息；第一判斷單元，所述第一判斷單元用于判斷所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息是否保持一致；第一生成單元，所述第一生成單元用于若所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息保持一致，生成第一提取指令，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。
48.進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括：第三提取單元，所述第三提取單元用于對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)；第一檢測單元，所述第一檢測單元用于基于所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，獲得第一檢測差異結(jié)果；第一檢修單元，所述第一檢修單元用于根據(jù)所述第一檢測差異結(jié)果，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行對(duì)應(yīng)檢修。
49.本說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，前述圖1實(shí)施例一中的一種存儲(chǔ)器固件檢修方法和具體實(shí)例同樣適用于本實(shí)施例的一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)，通過前述對(duì)一種存儲(chǔ)器固件檢修方法的詳細(xì)描述，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以清楚的知道本實(shí)施例中一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)，所以為了說明書的簡潔，在此不再詳述。對(duì)于實(shí)施例公開的裝置而言，由于其與實(shí)施例公開的方法相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法部分說明即可。
50.對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
51.示例性電子設(shè)備下面參考圖5來描述本發(fā)明的電子設(shè)備。
52.圖5圖示了根據(jù)本發(fā)明的電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
53.基于與前述實(shí)施例中一種存儲(chǔ)器固件檢修方法的發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提供一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)前文所述一種存儲(chǔ)器固件檢修方法的任一方法的步驟。
54.其中，在圖5中，總線架構(gòu)（用總線300來代表），總線300可以包括任意數(shù)量的互聯(lián)的總線和橋，總線300將包括由處理器302代表的一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器304代表的存儲(chǔ)器的各種電路鏈接在一起。總線300還可以將諸如外圍設(shè)備、穩(wěn)壓器和功率管理電路等之類的各種其他電路鏈接在一起，這些都是本領(lǐng)域所公知的，因此，本文不再對(duì)其進(jìn)行進(jìn)一步描述。總線接口305在總線300和接收器301和發(fā)送器303之間提供接口。接收器301和發(fā)送器303可以是同一個(gè)元件，即收發(fā)機(jī)，提供用于在傳輸介質(zhì)上與各種其他裝置通信的單元。
55.處理器302負(fù)責(zé)管理總線300和通常的處理，而存儲(chǔ)器304可以被用于存儲(chǔ)處理器302在執(zhí)行操作時(shí)所使用的數(shù)據(jù)。
56.本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，所述方法包括：對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)
據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。解決了現(xiàn)有技術(shù)中在利用固態(tài)硬盤的存儲(chǔ)介質(zhì)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行流通調(diào)取過程中，無法對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大降低的技術(shù)問題。通過對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前數(shù)據(jù)進(jìn)行提取，可獲得存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)數(shù)據(jù)，基于此，對(duì)關(guān)鍵扇區(qū)的數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選并標(biāo)記，可獲得較為高級(jí)的檢修參數(shù)，進(jìn)而通過該檢修參數(shù)，對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器的當(dāng)前芯片通道覆蓋的服務(wù)區(qū)進(jìn)行掃描，進(jìn)而對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)介質(zhì)的特定程序的過濾，通過對(duì)過濾得到的程序運(yùn)行數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼提取，可對(duì)提取到的標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)和實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，從而確定實(shí)際的扇區(qū)數(shù)據(jù)的缺陷位置，進(jìn)而進(jìn)行及時(shí)檢修，達(dá)到了對(duì)芯片通道覆蓋的關(guān)鍵扇區(qū)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速檢修，使得數(shù)據(jù)的調(diào)取響應(yīng)速率大大提升的技術(shù)效果。
57.本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，其中，包括處理器和存儲(chǔ)器；該存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)；該處理器，用于通過調(diào)用，執(zhí)行上述實(shí)施例一中任一項(xiàng)所述的方法。
58.本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序和/或指令，該計(jì)算機(jī)程序和/或指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例一中任一項(xiàng)所述方法的步驟。
59.本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實(shí)施例可提供為方法、裝置、或計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全軟件實(shí)施例、完全硬件實(shí)施例、或結(jié)合軟件和硬件方面實(shí)施例的形式。此外，本發(fā)明為可以在一個(gè)或多個(gè)包含有計(jì)算機(jī)可用程序代碼的計(jì)算機(jī)可用存儲(chǔ)介質(zhì)上實(shí)施的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的形式。而所述的計(jì)算機(jī)可用存儲(chǔ)介質(zhì)包括但不限于：u盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器（read-only memory，簡稱rom）、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（random access memory，簡稱ram）、磁盤存儲(chǔ)器、只讀光盤（compact disc read-only memory，簡稱cd-rom）、光學(xué)存儲(chǔ)器等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
60.本發(fā)明是參照本發(fā)明的方法、設(shè)備（系統(tǒng)）、和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的流程圖和／或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計(jì)算機(jī)程序指令實(shí)現(xiàn)流程圖和／或方框圖中的每一流程和／或方框、以及流程圖和／或方框圖中的流程和／或方框的結(jié)合。可提供這些計(jì)算機(jī)程序指令到通用計(jì)算機(jī)、專用計(jì)算機(jī)、嵌入式處理機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn)生一個(gè)機(jī)器，使得通過計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和／或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的系統(tǒng)。
61.這些計(jì)算機(jī)程序指令也可存儲(chǔ)在能引導(dǎo)計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特定方式工作的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中，使得存儲(chǔ)在該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中的指令產(chǎn)生包括指令系統(tǒng)的制造品，該指令系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和／或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能。
62.這些計(jì)算機(jī)程序指令也可裝載到計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理，從而在計(jì)算機(jī)或
其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和／或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的步驟。盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。
63.顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
技術(shù)特征：
1.一種存儲(chǔ)器固件檢修方法，其特征在于，所述方法包括：對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，包括：對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行遍歷，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合；獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的目標(biāo)適用場景；基于所述目標(biāo)適用場景，搭建數(shù)據(jù)遍歷篩選模型；將所述系統(tǒng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)集合輸入至所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行訓(xùn)練，獲得所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息。3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述搭建數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，包括：根據(jù)所述目標(biāo)適用場景，確定所述待檢修存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值、數(shù)據(jù)調(diào)取閾值以及數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率；將所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)閾值標(biāo)記為第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)調(diào)取閾值標(biāo)記為第二關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述數(shù)據(jù)響應(yīng)頻率標(biāo)記為第三關(guān)聯(lián)參數(shù)；對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的歷史流通數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲得歷史流通數(shù)據(jù)集合；將所述歷史流通數(shù)據(jù)集合作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，所述第一關(guān)聯(lián)參數(shù)、所述第二關(guān)聯(lián)參數(shù)以及所述第三關(guān)聯(lián)參數(shù)作為對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照訓(xùn)練，搭建所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型。4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括：對(duì)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行自定義拆分，獲得數(shù)據(jù)訓(xùn)練集和數(shù)據(jù)驗(yàn)證集；基于所述對(duì)照標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，對(duì)所述數(shù)據(jù)訓(xùn)練集進(jìn)行訓(xùn)練，生成初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型；將所述數(shù)據(jù)驗(yàn)證集輸入至所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型，進(jìn)行數(shù)據(jù)驗(yàn)證訓(xùn)練，生成第一驗(yàn)證結(jié)果；根據(jù)所述第一驗(yàn)證結(jié)果，對(duì)所述初步數(shù)據(jù)遍歷篩選模型進(jìn)行優(yōu)化，生成所述數(shù)據(jù)遍歷篩選模型。5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，包括：調(diào)用所述待檢修存儲(chǔ)器的第一初始化指令，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行初始化；將所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)的扇區(qū)數(shù)據(jù)地址傳輸至所述待檢修存儲(chǔ)器，基于內(nèi)嵌的譯碼表，對(duì)所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址進(jìn)行譯碼，獲得所述提取譯碼數(shù)據(jù)。6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法包括：獲得所述扇區(qū)數(shù)據(jù)地址的預(yù)設(shè)字節(jié)信息；獲得所述提取譯碼數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換字節(jié)信息；
判斷所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息是否保持一致；若所述轉(zhuǎn)換字節(jié)信息和所述預(yù)設(shè)字節(jié)信息保持一致，生成第一提取指令，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法包括：對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)；基于所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)扇區(qū)數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照檢測，獲得第一檢測差異結(jié)果；根據(jù)所述第一檢測差異結(jié)果，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行對(duì)應(yīng)檢修。8.一種存儲(chǔ)器固件檢修系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：第一提取單元，所述第一提取單元用于對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；第一確定單元，所述第一確定單元用于根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；第一標(biāo)記單元，所述第一標(biāo)記單元用于對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；第一掃描單元，所述第一掃描單元用于通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；第一過濾單元，所述第一過濾單元用于對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；第二提取單元，所述第二提取單元用于對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器和存儲(chǔ)器；所述存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)；所述處理器，用于通過調(diào)用，執(zhí)行權(quán)利要求1~7中任一項(xiàng)所述的方法。10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序和/或指令，其特征在于，該計(jì)算機(jī)程序和/或指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1~7中任一項(xiàng)所述方法的步驟。
技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種存儲(chǔ)器固件檢修方法及系統(tǒng)，所述方法包括：對(duì)待檢修存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，獲得所述待檢修存儲(chǔ)器的設(shè)備數(shù)據(jù)信息；根據(jù)所述設(shè)備數(shù)據(jù)信息，確定第一檢修參數(shù)、第二檢修參數(shù)以及第三檢修參數(shù)；對(duì)所述第一檢修參數(shù)、所述第二檢修參數(shù)以及所述第三檢修參數(shù)，分別進(jìn)行參數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記，且對(duì)標(biāo)記后的參數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的高級(jí)優(yōu)化，生成高級(jí)檢修參數(shù)；通過所述高級(jí)檢修參數(shù)，對(duì)所述待檢修存儲(chǔ)器的芯片通道進(jìn)行服務(wù)區(qū)掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)集合；對(duì)所述掃描數(shù)據(jù)集合進(jìn)行固件數(shù)據(jù)過濾，獲得目標(biāo)固件數(shù)據(jù)；對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行譯碼數(shù)據(jù)提取，獲得提取譯碼數(shù)據(jù)，且基于所述提取譯碼數(shù)據(jù)，對(duì)所述目標(biāo)固件數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯數(shù)據(jù)的鏡像提取。取。取。
