半導體量子芯片測控方法、系統、測控系統及量子計算機與流程
1.本技術涉及量子計算機技術領域，尤其是涉及一種半導體量子芯片測控方法、系統、測控系統及量子計算機。
背景技術：
2.量子計算機是一類遵循量子力學規律進行高速數學和邏輯運算、存儲及處理量子信息的物理裝置。量子計算機有諸多發展方向，例如：超導、半導、離子井等，其中半導體量子計算機是指以門控半導體量子點實現量子比特編碼為物理基礎所形成的量子計算物理體系。
3.半導體量子計算機中包含測控系統，測控系統用于提供半導體量子芯片運行所需精密信號的生成、采集、控制與處理，測控系統中的測控硬件仍以商用儀器為主，在進行測量和控制半導體量子芯片時，需要依次對商用儀器進行參數設置，通過多種商用儀器對半導體量子芯片的參數進行設置，從而完成實驗。
4.針對上述中的相關技術，得知半導體量子計算機的測控需要依次對多種商用儀器的參數進行設置，導致實驗的參數設置比較復雜，不便于人員對半導體量子芯片進行測控。
技術實現要素：
5.為了改善半導體量子計算機的測控需要依次對多種商用儀器的參數進行設置，導致實驗的參數設置比較復雜，不便于人員對半導體量子芯片進行測控的問題，本技術提供一種半導體量子芯片測控方法、系統、測控系統及量子計算機。
6.第一方面，本技術提供的一種半導體量子芯片測控方法，采用如下的技術方案：包括：在接收到請求指令時，根據預設的界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面；響應實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的實驗界面；響應實驗執行指令，讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數，并運行實驗；接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果。
7.可選的，在所述響應實驗執行指令，解析并讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數之前，還包括：響應用戶登錄指令，在預設的用戶數據庫中查與所述用戶登錄指令對應的用戶實驗參數；響應所述實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的所述實驗界面，并將所述用戶實驗參數填充入所述實驗界面。
8.可選的，在所述響應實驗執行指令，解析并讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數之后，還包括：將所述實驗參數與預設的對應的閾值范圍進行比較；
若檢測到所述實驗參數超過對應的所述閾值范圍，則顯示參數錯誤提示。
9.可選的，所述實驗結果包括實驗數據以及實驗動態繪圖；所述接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果，包括：接收與所述實驗參數對應的所述實驗數據；在預設的實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型；通過預設的統計圖表組件將所述實驗數據填充入所述實驗繪圖模型中，生成所述實驗動態繪圖；顯示所述實驗動態繪圖以及所述實驗數據。
10.可選的，在所述在預設的實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型之后，還包括：根據所述實驗參數確定實驗繪圖方向，所述實驗繪圖方向包括：正向或反向；根據所述實驗繪圖方向以及所述統計圖表組件將所述實驗數據填充入所述實驗繪圖模型中，生成所述實驗動態繪圖。
11.可選的，所述顯示所述實驗動態繪圖及所述實驗數據，包括：刪除之前的舊實驗動態繪圖；顯示與當前的所述實驗數據對應的實驗動態繪圖及所述實驗數據。
12.可選的，所述實驗參數包括：內循環參數和外循環參數；在所述刪除之前的舊實驗動態繪圖之前，還包括：若與所述實驗名稱對應的所述實驗繪圖模型不唯一，則根據所述內循環參數和所述外循環參數確定對應的實驗繪圖模型的所述實驗繪圖方向；根據所述內循環參數對應的所述實驗繪圖方向將當前的所述實驗數據填充入對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖；根據所述外循環參數對應的所述實驗繪圖方向將所述內循環參數對應的所有實驗數據填充入與所述外循環參數對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖。
13.第二方面，本技術還提供一種半導體量子芯片測控裝置，采用如下技術方案：包括：頁面模塊，用于在接收到請求指令時，根據預設的界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面；選擇模塊，用于響應實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的實驗界面；參數模塊，用于響應實驗執行指令，讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數，并運行實驗；反饋模塊，用于接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果。
14.第三方面，本技術還提供一種控制設備，所述設備包括：包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有能夠被處理器加載并執行如上述半導體量子芯片測控方法的計算機程序。
15.第四方面，本技術還提供一種計算機可讀存儲介質，存儲有能夠被處理器加載并執行如上述半導體量子芯片測控方法的計算機程序。
16.第五方面，本技術還提供一種測控系統，采用上述的半導體量子芯片測控方法執行實驗。
17.第六方面，本技術還提供一種量子計算機，包括上述測控系統以及半導體量子芯片。
18.綜上所述，與現有技術相比，本技術先接收來自用戶端的請求指令，根據界面數據對頁面進行渲染，生成多個實驗界面，當用戶對實驗進行選擇后，根據實驗選擇指令顯示對應的實驗界面，從而便于對實驗參數進行設置，接著在接收到實驗執行指令時，讀取實驗界面上的實驗參數，根據實驗參數運行實驗，并對接收到的實驗結果進行顯示，從而便于用戶對整個實驗的實驗參數進行設置，進而便于聯合多種儀器根據實驗參數運行實驗，以增加實驗操作的便捷性，便于用戶對半導體量子芯片進行測控。
附圖說明
19.圖1是本技術實施例一種半導體量子芯片測控方法的流程示意圖。
20.圖2是一些實施例中步驟s40的子步驟流程示意圖。
21.圖3是本技術實施例一種半導體量子芯片測控裝置的結構框圖。
22.附圖標記說明：310－頁面模塊；320－選擇模塊；330－參數模塊；340－反饋模塊。
具體實施方式
23.以下結合圖1-圖3對本技術作進一步詳細說明。
24.本技術實施例公開一種半導體量子芯片測控方法，執行設備為測控系統，系統通過socket以及websocket協議為基礎，自定義通訊協議，采用統一的接口訪問和控制多種儀器，并將實驗參數發送至對應的儀器，使得儀器根據實驗參數控制半導體量子芯片進行實驗，以便于系統獲取實驗結果。其中，儀器包括但不限于直流信號源、脈沖信號源、微波信號源、任意波形發生器、示波器、矢量網絡分析儀、頻譜儀等。
25.參照圖1，本技術實施例至少包括步驟s10至步驟s40。
26.s10，在接收到請求指令時，根據界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面。
27.其中，界面數據是html、css、javascript等資源，根據這些資源可以將空白的頁面渲染為實驗界面。
28.具體來說，當用戶通過用戶端登錄系統時，用戶端向系統發送請求指令，系統查預設的界面數據，并根據界面數據對用戶端的web界面進行渲染，生成所有的實驗界面，以便于在用戶選擇實驗時顯示對應的實驗界面。
29.s20，響應實驗選擇指令，顯示與實驗選擇指令對應的實驗界面。
30.其中，實驗選擇指令包括實驗名稱或實驗對應的標號等。
31.具體來說，用戶在登錄上系統時，用戶在用戶端的web界面上選擇對應的實驗，即向系統發送實驗選擇指令，在接收實驗選擇指令時，系統根據實驗選擇指令中的實驗名稱查對應的實驗界面，并在web界面上顯示對應的實驗界面，從而便于用戶直觀地看到實驗所需要使用的儀器，進而便于用戶對實驗參數進行設置，以提高用戶設置參數的便捷性。
32.s30，響應實驗執行指令，讀取實驗界面上的實驗參數，并運行實驗。
33.其中，本技術實施例中運行的實驗包括但不限于掃庫倫峰實驗、set&dqd輸運相圖實驗、modulation電荷調制實驗、直流探測實驗、rts gamma讀取實驗、rts level gamma實驗、磁譜輸運實驗、電子溫度測量實驗、電子軌道激發態實驗等。
34.具體來說，用戶點擊web界面上執行實驗的圖標，即向系統發送實驗執行指令，系統對實驗界面上的數據進行讀取，獲取實驗參數，并將實驗參數發送至對應的儀器，使得儀器根據實驗參數輸出對半導體量子芯片進行控制的控制信號，從而運行實驗，進而便于半導體量子芯片根據實驗參數進行實驗，以提高用戶進行實驗的便捷性。
35.s40，接收并顯示與實驗參數對應的實驗結果。
36.系統將實驗參數發送至對應的儀器后，儀器根據實驗參數輸出控制信號控制半導體量子芯片執行實驗，并采集半導體量子芯片輸出的對應的實驗數據，儀器將實驗數據發送至系統，系統根據自定義通訊協議對實驗數據進行解析和讀取，獲取實驗結果，并在web界面上顯示實驗結果，從而便于用戶查看實驗生成的實驗結果，進而便于用戶快速完成實驗，以便于用戶對半導體量子芯片進行測控。
37.在一些實施例中，考慮到用戶端不唯一的問題，為了對每個用戶之間進行隔離，系統增加登錄接口，使每個用戶可以設置自己的實驗界面，相應處理步驟如下：響應用戶登錄指令，在預設的用戶數據庫中查與用戶登錄指令對應的用戶實驗參數；響應實驗選擇指令，顯示與實驗選擇指令對應的實驗界面，并將用戶實驗參數填充入實驗界面。
38.其中，用戶數據庫用于記錄每個用戶的用戶名稱以及每個用戶設置并保存的實驗參數，即用戶實驗參數。
39.具體來說，用戶通過登錄接口登錄系統，系統在接收到用戶登錄指令時，系統在預設的用戶數據庫中查與用戶登錄指令中用戶名稱對應的用戶實驗參數，在接收到實驗選擇指令時，系統顯示與實驗選擇指令對應的實驗界面，并將用戶實驗參數填充入實驗界面，從而對每個用戶的數據進行隔離，進而便于用戶保存設置的實驗參數，以減少重復設置相同的實驗參數的操作，提高實驗效率。
40.在一些實施例中，考慮到實驗參數設置不合理的情況，為了解決用戶實驗參數設置錯誤的問題，系統對實驗參數進行檢查，并對錯誤的實驗參數進行提示，相應處理步驟如下：將實驗參數與預設的對應的閾值范圍進行比較；若檢測到實驗參數超過對應的閾值范圍，則顯示參數錯誤提示。
41.其中，閾值范圍是根據具體實驗、儀器以及量子芯片提前確定的，實驗參數超過閾值范圍容易導致實驗數據誤差較大甚至損壞量子芯片。
42.具體來說，系統獲取實驗參數之后，系統將實驗參數與預設的對應的閾值進行比較，若檢測到實驗參數超過對應的閾值范圍，則顯示與參數錯誤有關的提示，例如：外循環參數錯誤，請重新設置，從而對設置錯誤的實驗參數進行提示，進而便于用戶及時對實驗參數進行更改，以減少實驗過程中實驗出現錯誤的可能。
43.在一些實施例中，參照圖2，考慮到用戶需要直觀看到實驗結果的情況，為了便于用戶直觀看到實驗結果的變化，步驟s40可以分為以下步驟：s401，接收與實驗參數對應的實驗數據。
44.s402，在實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型。
45.s403，通過統計圖表組件將實驗數據填入實驗繪圖模型中。
46.s404，顯示實驗動態繪圖以及實驗數據。
47.其中，實驗結果包括實驗數據以及實驗動態繪圖，實驗繪圖模型是根據每個實驗提前設置好的，有譜圖、直方圖和折線圖等。統計圖表組件是用于根據實驗數據對實驗繪
圖模型進行填充，填充完的實驗繪圖模型形成實驗動態繪圖，本實施例中的統計圖表組件為g2plot。
48.具體來說，系統在接收到儀器發送來的實驗數據時，系統在預設的實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型，實驗名稱是在實驗選擇指令中包含的。系統通過統計圖表組件將實驗數據填充入對應的實驗繪圖模型中，接著系統通過web界面對實驗動態繪圖以及實驗數據進行顯示，從而便于用戶直觀地看到實驗數據的變化，以便于用戶及時了解實驗進度，同時便于用戶實時檢查實驗是否出現錯誤。
49.進一步的，系統在顯示實驗繪圖時，可以具體分為兩個步驟：刪除之前的舊實驗動態繪圖；顯示與當前的實驗數據對應的實驗動態繪圖。
50.具體來說，系統在接收到多次實驗數據后，將最近一次的實驗數據填充入實驗繪圖模型中，生成新的實驗動態繪圖，并將新的實驗動態繪圖對與上一次實驗數據對應的實驗動態繪圖進行替換，從而使得每一次收到實驗數據時，均生成一張新的實驗動態繪圖，當實驗數據的發送頻率很快時，會使得新的實驗動態繪圖生成速率變快，從而便于用戶直觀地看到實驗數據的變化，以便于用戶了解實驗進程以及及時糾錯。
51.在一些實施例中，考慮到實驗繪圖存在不同方向的問題，系統根據實驗參數確定實驗繪圖方向，相應處理步驟如下：根據預設的實驗參數確定實驗繪圖方向，實驗繪圖方向包括：正向或反向；根據實驗繪圖方向以及統計圖表組件將實驗數據填充入實驗繪圖模型中，生成實驗動態繪圖。
52.其中，本技術實施例中實驗繪圖方向的正向是指沿x軸或y軸正半軸延伸的方向，反之，則為反向。
53.具體來說，系統根據用戶設置的實驗參數確定實驗繪圖方向，并根據實驗繪圖方向利用統計圖表組件將實驗數據填充入實驗繪圖模型中，生成實驗動態繪圖。其中用于確定實驗繪圖方向的實驗參數為循環參數，例如：循環參數為（4,6,0.1），則表明實驗繪圖方向為正向；循環參數為（6,4,-0.1），則表明實驗繪圖方向為反向，從而便于系統根據實驗繪圖方向對實驗繪圖模型進行繪制，以減少實驗動態繪圖出現錯誤的可能。
54.進一步的，考慮到實驗繪圖模型不唯一的情況，為了解決對多個實驗繪圖模型進行填充的問題，系統根據內循環參數以及外循環參數分別對應的實驗數據對實驗繪圖模型進行填充，相關處理步驟如下：若與實驗名稱對應的實驗繪圖模型不唯一，則根據內循環參數和外循環參數確定對應的實驗繪圖模型的實驗繪圖方向；根據內循環參數對應的實驗繪圖方向將當前的實驗數據填充入對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖；根據外循環參數對應的實驗繪圖方向將內循環參數對應的所有實驗數據填充入與外循環參數對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖。
55.其中，實驗參數包括循環參數，循環參數又可以分為內循環參數以及外循環參數，本實施例中，內循環參數完成一個完整周期后，進行一次外循環參數，實際中，內循環參數和外循環參數是為了控制變量而設置的，在進行內循環時，內循環參數對應的參數每一次內循環均改變，而外循環參數對應的參數不變化，直至完成一個完整周期的內循環時，外循環參數對應的參數改變一次值，然后根據改變的值以及內循環參數對應的參數進行下一次完整周期的內循環，依次重復，直至完成所有外循環，從而獲得更全面的實驗數據。
56.具體來說，若實驗名稱對應的實驗繪圖模型不唯一，則系統根據內循環參數和外
循環參數確定對應的實驗繪圖模型的實驗繪圖方向，接著系統根據內循環參數對應的實驗繪圖方向、最近一次的實驗數據以及實驗繪圖模型，生成內循環參數對應的實驗動態繪圖。同時，系統根據外循環參數對應的實驗繪圖方向、所有實驗數據以及實驗繪圖模型，生成外循環參數對應的實驗動態繪圖，并同時顯示多種實驗動態繪圖，其中，這里所有實驗數據指的是本實驗中多次接收到的實驗數據，以便于用戶查看不同參數變化時實驗數據的走向。
57.本技術實施例一種半導體量子芯片測控方法的實施原理為：系統先接收來自用戶端的請求指令，根據界面數據對頁面進行渲染，生成多個實驗界面，當用戶對實驗進行選擇后，根據實驗選擇指令顯示對應的實驗界面，從而便于對實驗參數進行設置，接著在接收到實驗執行指令時，解析并讀取實驗界面上的實驗參數，根據實驗參數對實驗進行運行，對接收到的實驗數據進行顯示，并根據實驗數據以及實驗繪圖模型生成實驗動態繪圖，并顯示實驗動態繪圖，從而便于用戶對整個實驗的實驗參數進行設置，進而便于聯合多種儀器根據實驗參數運行實驗，以增加實驗操作的便捷性，便于用戶對半導體量子芯片進行測控。
58.參照圖3，本技術還提供一種半導體量子芯片測控裝置，該裝置包括：頁面模塊310，用于在接收到請求指令時，根據預設的界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面；選擇模塊320，用于響應實驗選擇指令，顯示與實驗選擇指令對應的實驗界面；參數模塊330，用于響應實驗執行指令，讀取與實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數，并運行實驗；反饋模塊340，用于接收并顯示與實驗參數對應的實驗結果。
59.在一些實施例中，頁面模塊310還用于響應用戶登錄指令，在預設的用戶數據庫中查與用戶登錄指令對應的用戶實驗參數；響應實驗選擇指令，顯示與實驗選擇指令對應的實驗界面，并將用戶實驗參數填充入實驗界面。
60.在一些實施例中，參數模塊330還用于將實驗參數與預設的對應的閾值范圍進行比較；若檢測到實驗參數超過對應的閾值范圍，則顯示參數錯誤提示。
61.在一些實施例中，反饋模塊340包括用于接收與實驗參數對應的實驗數據；在預設的實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型；通過預設的統計圖表組件將實驗數據填充入實驗繪圖模型中，生成實驗動態繪圖；顯示實驗動態繪圖以及實驗數據。
62.在一些實施例中，反饋模塊340還用于根據實驗參數確定實驗繪圖方向，實驗繪圖方向包括：正向或反向；根據實驗繪圖方向以及統計圖表組件將實驗數據填充入實驗繪圖模型中，生成實驗動態繪圖。
63.在一些實施例中，反饋模塊340還用于刪除之前的舊實驗動態繪圖；顯示與當前的實驗數據對應的實驗動態繪圖及實驗數據。
64.在一些實施例中，反饋模塊340還用于若與實驗名稱對應的實驗繪圖模型不唯一，則根據內循環參數和外循環參數確定對應的實驗繪圖模型的實驗繪圖方向；根據內循環參數對應的實驗繪圖方向將當前的實驗數據填充入對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖；
根據外循環參數對應的實驗繪圖方向將內循環參數對應的所有實驗數據填充入與外循環參數對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖。
65.本技術實施例還公開一種控制設備。
66.具體來說，該控制設備包括存儲器和處理器，存儲器上存儲有能夠被處理器加載并執行上述半導體量子芯片測控方法的計算機程序。
67.本技術實施例還公開一種計算機可讀存儲介質。
68.具體來說，該計算機可讀存儲介質，其存儲有能夠被處理器加載并執行如上述半導體量子芯片測控方法的計算機程序，該計算機可讀存儲介質例如包括：u盤、移動硬盤、只讀存儲器(read-onlymemory，rom)、隨機存取存儲器(randomaccessmemory，ram)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。
69.本技術實施例還公開一種測控系統，采用上述半導體量子芯片測控方法執行實驗。
70.本技術實施例還公開一種量子計算機，包括上述的測控系統以及半導體量子芯片。
71.以上均為本技術的較佳實施例，并非依此限制本技術的保護范圍，故：凡依本技術的結構、形狀、原理所做的等效變化，均應涵蓋于本技術的保護范圍之內。
技術特征：
1.一種半導體量子芯片測控方法，其特征在于，所述方法包括：在接收到請求指令時，根據預設的界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面；響應實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的實驗界面；響應實驗執行指令，讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數，并運行實驗；接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述響應實驗執行指令，解析并讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數之前，還包括：響應用戶登錄指令，在預設的用戶數據庫中查與所述用戶登錄指令對應的用戶實驗參數；響應所述實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的所述實驗界面，并將所述用戶實驗參數填充入所述實驗界面。3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述響應實驗執行指令，解析并讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數之后，還包括：將所述實驗參數與預設的對應的閾值范圍進行比較；若檢測到所述實驗參數超過對應的所述閾值范圍，則顯示參數錯誤提示。4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述實驗結果包括實驗數據以及實驗動態繪圖；所述接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果，包括：接收與所述實驗參數對應的所述實驗數據；在預設的實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型；通過預設的統計圖表組件將所述實驗數據填充入所述實驗繪圖模型中，生成所述實驗動態繪圖；顯示所述實驗動態繪圖以及所述實驗數據。5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在所述在預設的實驗繪圖數據庫中查與實驗名稱對應的實驗繪圖模型之后，還包括：根據所述實驗參數確定實驗繪圖方向，所述實驗繪圖方向包括：正向或反向；根據所述實驗繪圖方向以及所述統計圖表組件將所述實驗數據填充入所述實驗繪圖模型中，生成所述實驗動態繪圖。6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述顯示所述實驗動態繪圖及所述實驗數據，包括：刪除之前的舊實驗動態繪圖；顯示與當前的所述實驗數據對應的實驗動態繪圖及所述實驗數據。7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述實驗參數包括：內循環參數和外循環參數；在所述刪除之前的舊實驗動態繪圖之前，還包括：若與所述實驗名稱對應的所述實驗繪圖模型不唯一，則根據所述內循環參數和所述外循環參數確定對應的實驗繪圖模型的所述實驗繪圖方向；根據所述內循環參數對應的所述實驗繪圖方向將當前的所述實驗數據填充入對應的
實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖；根據所述外循環參數對應的所述實驗繪圖方向將所述內循環參數對應的所有實驗數據填充入與所述外循環參數對應的實驗繪圖模型中，生成對應的實驗動態繪圖。8.一種半導體量子芯片測控裝置，其特征在于，所述裝置包括：頁面模塊（310），用于在接收到請求指令時，根據預設的界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面；選擇模塊（320），用于響應實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的實驗界面；參數模塊（330），用于響應實驗執行指令，讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數，并運行實驗；反饋模塊（340），用于接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果。9.一種控制設備，其特征在于，所述設備包括：包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一種所述方法的計算機程序。10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一種所述方法的計算機程序。11.一種測控系統，其特征在于，采用權利要求1至7中任一項所述方法執行實驗。12.一種量子計算機，其特征在于，包括權利要求11中所述的測控系統以及半導體量子芯片。
技術總結
本申請涉及一種半導體量子芯片測控方法、系統、測控系統及量子計算機，應用于量子計算機技術領域，其包括在接收到請求指令時，根據預設的界面數據對頁面進行渲染，生成實驗界面；響應實驗選擇指令，顯示與所述實驗選擇指令對應的實驗界面；響應實驗執行指令，讀取與所述實驗選擇指令對應的實驗界面，獲取實驗參數，并運行實驗；接收并顯示與所述實驗參數對應的實驗結果。本申請通過與多種儀器建立鏈接，生成實驗界面，從而便于用戶對實驗參數進行設置，進而便于根據實驗參數控制儀器運行實驗，大大提高了用戶進行實驗的便捷性。大大提高了用戶進行實驗的便捷性。大大提高了用戶進行實驗的便捷性。
